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J-GLOBAL ID：202002227574256088   整理番号：20A1935558

非線形Wienerプロセスに基づく電気コネクタ接触ペアの加速劣化試験計画の最適化【JST・京大機械翻訳】

Optimization of the Accelerated Degradation Test Plan for Electrical Connector Contact Pairs Based on a Nonlinear Wiener Process

著者 (6件)： Qian Ping (National and Local Joint Engineering Research Center of Reliability Analysis and Testing for Mechanical and Electrical Products, Zhejiang Sci-Tech University, Hangzhou 310018, China) ,  Hong Lei (National and Local Joint Engineering Research Center of Reliability Analysis and Testing for Mechanical and Electrical Products, Zhejiang Sci-Tech University, Hangzhou 310018, China) ,  Chen Wenhua (National and Local Joint Engineering Research Center of Reliability Analysis and Testing for Mechanical and Electrical Products, Zhejiang Sci-Tech University, Hangzhou 310018, China) ,  Qian Yongwang (National and Local Joint Engineering Research Center of Reliability Analysis and Testing for Mechanical and Electrical Products, Zhejiang Sci-Tech University, Hangzhou 310018, China) ,  Wang Zhe (Beijing Institute of Control and Electronic Technology, Beijing 100038, China) ,  Yao Huajun (Hangzhou Aerospace Electronic Technology Co., Ltd., Hangzhou 310018, China)
資料名： Mathematical Problems in Engineering (Web)  (Mathematical Problems in Engineering (Web))
巻： 2020  ページ： Null  発行年： 2020年 
JST資料番号： U7803A  ISSN： 1024-123X  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 加速劣化試験は,長い寿命と高い信頼性を有する製品の信頼性を評価する効果的方法である。ほとんどの製品の性能は分解過程でランダムに変動するので,Wienerプロセスの使用に適している。現在,拡散係数がWienerプロセスで一定と見なされるが,ドリフト係数は応力に関係する。しかし,実際には,製品性能変動の振幅は応力レベルの増加とともに増加し,それは一定ではない。したがって,ドリフト係数と拡散係数の両方が応力依存性である非線形Wienerの場合,本論文では,一定応力加速劣化試験理論と方法を研究した。研究対象として電気コネクタの接触ペアを取り上げて,法線応力の下の信頼できる寿命推定の最小分散をターゲットとして取り入れた。各応力レベル,試験応力レベル,各応力レベルでの試料分布比,および時間の3分の1パワースケールでの試験間隔を,設計変数として採用した。3,4および5の応力レベル下の試験計画を最適化し,一般的な試験計画と比較した。評価精度に及ぼす高および低応力レベル間の差の影響を分析した。最後に,パラメータの感度解析は,最適化計画には良いロバスト性があり,応力量の変化は計画のロバスト性にほとんど影響しないことを示した。Copyright 2020 Ping Qian et al. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 拡散係数 ,  *最適化 ,  信頼性 ,  感度解析 ,  法線応力 ,  ドリフト ,  ロバスト性 ,  寿命予測
準シソーラス用語： 設計変数 ,  応力依存性 ,  加速劣化試験 ,  高信頼性 ,  *電気コネクタ ,  最小分散 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 信頼性  (KB04040H)

引用文献 (28件)：

• X. Y. Li, T. M. Jiang, T. Huang et al., "SSADT evaluation method for storage state of microwave electronic products," Journal of Beijing University of Aeronautics and Astronautics, vol. 34, no. 10, pp. 1135-1138, 2008.
• G. A. Whitmore, "Estimating degradation by a Wiener diffusion process subject to measurement error," Lifetime Data Analysis, vol. 1, no. 3, pp. 307-319, 1995.
• S. T. Tseng, C. Y. Peng, "Stochastic diffusion modeling of degradation data," Journal of Data Science, vol. 5, pp. 315-333, 2007.
• C.-M. Liao, S.-T. Tseng, "Optimal design for step-stress accelerated degradation tests," IEEE Transactions on Reliability, vol. 55, no. 1, pp. 59-66, 2006.
• Z.-S. Ye, S. Chen, N. Shen, "A new class of Wiener process models for degradation analysis," Reliability Engineering & System Safety, vol. 139, pp. 58-67, 2015.

タイトルに関連する用語 (6件)： 非線形 ,  プロセス ,  電気コネクタ ,  加速劣化試験 ,  計画 ,  最適化