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J-GLOBAL ID：202002263131067705   整理番号：20A0329817

レーザ加熱後のディスク表面から転写したペルフルオロポリエーテル潤滑剤のTOF-SIMS分析【JST・京大機械翻訳】

TOF-SIMS analysis of perfluoropolyether lubricant smear transferred from disk surface following laser heating

著者 (5件)： Tani Hiroshi (Kansai University, Suita-shi, Osaka, Japan) ,  Shibahara Yuta (Graduate School of Kansai University, Suita-shi, Osaka, Japan) ,  Lu Reguo (Kansai University, Suita-shi, Osaka, Japan) ,  Koganezawa Shinji (Kansai University, Suita-shi, Osaka, Japan) ,  Tagawa Norio (Kansai University, Suita-shi, Osaka, Japan)
資料名： Microsystem Technologies  (Microsystem Technologies)
巻： 26  号： 1  ページ： 79-88  発行年： 2020年 
JST資料番号： W2056A  ISSN： 0946-7076  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： ドイツ (DEU)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 熱支援磁気記録(HAMR)におけるレーザ加熱後のペルフルオロポリエーテル潤滑剤の構造及び分子量変化を飛行時間二次イオン質量分析を用いて分析した。低分子量分子がレーザ加熱により分解し,容易に蒸発するので,ピックアップ潤滑剤分子の分子量は増加する。解離は比較的低い加熱温度で潤滑剤分子の末端基から始まり,より長い炭化水素末端元素の解離は温度の上昇と共に起こる。温度がさらに上昇すると,主鎖のエーテル結合の分解も起こると推定した。これらの解離潤滑要素はレーザ加熱中にピン表面によりピックアップされる。全体として,ここで示された結果は,潤滑剤の炭化水素末端基の化学的および熱的安定性が,HAMRにおけるレーザ加熱による潤滑膜および潤滑剤ピックアップの枯渇速度を低減するために改善されるべきであることを示唆した。Copyright Springer-Verlag GmbH Germany, part of Springer Nature 2019 Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： *レーザ加熱 ,  加熱温度 ,  *潤滑剤 ,  熱安定性 ,  潤滑膜 ,  分子量 ,  *円板 ,  炭化水素 ,  低分子量 ,  末端基
準シソーラス用語： エーテル結合 ,  主鎖 ,  *TOF-SIMS , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： 電子・磁気・光学記録  (NC06020F) ,  記憶装置  (JC04060F)

タイトルに関連する用語 (7件)： レーザ加熱 ,  ディスク ,  転写 ,  ペルフルオロポリエーテル ,  潤滑剤 ,  TOF-SIMS ,  分析