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J-GLOBAL ID:202002283826471066   整理番号:20A2223226

二段階プラズマエッチングプロセスによるUVC LEDの低抵抗n接触【JST・京大機械翻訳】

Low resistance n-contact for UVC LEDs by a two-step plasma etching process
著者 (10件):
資料名:
巻: 35  号:ページ: 095019 (5pp)  発行年: 2020年 
JST資料番号: E0503B  ISSN: 0268-1242  CODEN: SSTEET  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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265nmで発光する紫外発光ダイオード(UVLED)のチップ作製中のAlGaN:Si電流拡散層上の低抵抗n接触の形成に及ぼすプラズマエッチングの影響を調べた。BCl_3/Cl_2混合ガスを用いた最初の迅速なエッチングと純粋なCl_2ガスを用いた第2の遅いエッチング段階による2段階プラズマエッチングプロセスを開発した。エッチングシーケンスは平滑なメサ側壁とn-AlGaN表面を提供し,表面損傷は減少した。3.5×10-4Ωcm2の接触抵抗を有するオームn接触をSiドープAl_0.65Ga_0.35N層上で得,UVC LEDの動作電圧は20mAの電流に対して2V減少した。Please refer to the publisher for the copyright holders. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
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分類 (1件):
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発光素子 

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