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J-GLOBAL ID:202002290152336382   整理番号:20A0590313

室温での可視光のための2.5μm画素CMOSセンサによるX線イメージング偏光測定【JST・京大機械翻訳】

X-ray imaging polarimetry with a 2.5-μm pixel CMOS sensor for visible light at room temperature
著者 (16件):
資料名:
巻:号:ページ: 035002  発行年: 2019年 
JST資料番号: W5081A  ISSN: 2329-4124  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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要約。その重要性にもかかわらず,天文学におけるX線偏光測定はよく利用されていない。装置の最近の革新はこの状況を変えている。小さな画素サイズをもつ相補的金属-オキシド-半導体(CMOS)画素検出器に焦点を合わせ,X線光電子追跡偏光計としてそれを用いた。このCMOS検出器はGPixel社により開発され,2.5μm×2.5μmの画素サイズを持っている。それは可視光に対して設計されているが,室温および大気条件において5.9keVにおいて176eV(FWHM)のエネルギー分解能でX線光子を検出することに成功した。日本のシンクロトロン放射施設SPring-8のBL20B2に偏光単色X線を照射することにより,X線検出効率と偏光測定感度を測定した。12.4と24.8keVでそれぞれ7.63%±0.07%と15.5%±0.4%の変調因子を得た。このセンサは,これまでに試験した最高の空間分解能を有するX線イメージング分光計および偏光計として使用できることを実証した。Copyright 2019 Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
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分類 (2件):
分類
JSTが定めた文献の分類名称とコードです
放射線検出・検出器  ,  X線技術 

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