特許
J-GLOBAL ID:202003001554196047
架橋構造可視化方法
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
特許業務法人 安富国際特許事務所
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2018-153545
公開番号(公開出願番号):特開2020-027084
出願日: 2018年08月17日
公開日(公表日): 2020年02月20日
要約:
【課題】高分子複合材料の架橋構造を可視化し、実際の製品で問題となるマイクロオーダーの架橋不均一構造を可視化する架橋構造可視化方法を提供する。【解決手段】加硫剤及び加硫に関する硫黄化合物からなる群より選択される少なくとも1種を含有する高分子複合材料に、高輝度X線を照射しX線のエネルギーを変えながら微小領域のX線吸収量を測定し、特異値分解を用いて硫黄及び加硫に関する硫黄化合物の分散状態を可視化することにより、架橋構造を可視化する架橋構造可視化方法。【選択図】なし
請求項(抜粋):
加硫剤及び加硫に関する硫黄化合物からなる群より選択される少なくとも1種を含有する高分子複合材料に、高輝度X線を照射しX線のエネルギーを変えながら微小領域のX線吸収量を測定し、特異値分解を用いて硫黄及び加硫に関する硫黄化合物の分散状態を可視化することにより、架橋構造を可視化する架橋構造可視化方法。
IPC (2件):
FI (2件):
Fターム (24件):
2G001AA01
, 2G001BA11
, 2G001BA12
, 2G001CA01
, 2G001EA03
, 2G001LA05
, 2G001NA08
, 4J002AC011
, 4J002AC031
, 4J002AC061
, 4J002AC071
, 4J002AC081
, 4J002AC091
, 4J002BB181
, 4J002BB241
, 4J002DA046
, 4J002EV146
, 4J002EV167
, 4J002EV176
, 4J002EV327
, 4J002EV347
, 4J002FD146
, 4J002FD157
, 4J002GN01
引用特許:
出願人引用 (6件)
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審査官引用 (4件)