特許
J-GLOBAL ID：202003004687565893

計測装置および微粒子測定システム

発明者：
鷲津 信栄

鷲津 信栄 について


出願人/特許権者：
株式会社アドバンテスト

株式会社アドバンテスト について


代理人 (4件)： 森下 賢樹 ,  村田 雄祐 ,  三木 友由 ,  真家 大樹
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2018-140616
公開番号（公開出願番号）：特開2020-016584
出願日： 2018年07月26日
公開日（公表日）： 2020年01月30日
要約：
【課題】電流波形を正確に測定可能な測定装置を提供する。【解決手段】ナノポアデバイス100は、細孔104および電極対106,108を有するナノポアデバイス100に流れる電流信号Isを測定する。トランスインピーダンスアンプ210は、電流信号Isを電圧信号Vsに変換する。電圧源220は、通常の測定時において電極対106,108の間に直流のバイアス電圧Vbを印加し、キャリブレーション時に電極対106,108の間に交流成分を含む校正用電圧Vcalを印加可能である。キャリブレーション時に、トランスインピーダンスアンプ210の出力信号Vsと、校正用電圧Vcalにもとづいて、計測装置200の少なくともひとつの回路定数を補正可能に構成される。【選択図】図4
請求項（抜粋）：
細孔および電極対を有するナノポアデバイスに流れる電流信号を測定する計測装置であって、 前記電流信号を電圧信号に変換するトランスインピーダンスアンプと、 通常の測定時において前記電極対の間に直流のバイアス電圧を印加し、キャリブレーション時に前記電極対の間に交流成分を含む校正用電圧を印加可能な電圧源と、 を備え、 前記キャリブレーション時に、前記トランスインピーダンスアンプの出力信号と、前記校正用電圧にもとづいて、前記計測装置の少なくともひとつの回路定数を補正可能に構成されることを特徴とする計測装置。
IPC (2件)：
G01N 15/12 ,  G01N 27/02
FI (3件)：
G01N15/12 F ,  G01N27/02 D ,  G01N27/02 E
Fターム (7件)：
2G060AA06 ,  2G060AA19 ,  2G060AF20 ,  2G060AG03 ,  2G060GA01 ,  2G060HC01 ,  2G060HC06
引用特許：
出願人引用 (6件)
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審査官引用 (6件)
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