特許
J-GLOBAL ID：202003005510226149

画像検査装置

発明者：
下平 真達

下平 真達 について


出願人/特許権者：
株式会社キーエンス

株式会社キーエンス について


代理人 (1件)： 特許業務法人前田特許事務所
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2019-093174
公開番号（公開出願番号）：特開2020-187657
出願日： 2019年05月16日
公開日（公表日）： 2020年11月19日
要約：
【課題】通常検査処理と深層学習処理とを適用可能にし、検査処理の高速性と、複雑な判別への高い対応力とを両立させる。【解決手段】入力された検査対象画像の画素値に基づいて欠陥候補箇所を抽出する。抽出された欠陥候補箇所を含む領域に検査ウィンドウを設定する。検査ウィンドウ内の画像を分類器に入力することにより、検査対象画像が第1のクラスと第2のクラスのいずれに分類されるかを判定する。【選択図】図7
請求項（抜粋）：
検査対象物を撮像して取得された検査対象画像に基づいて検査対象物の検査を行う画像検査装置において、 設定モード時に、前記検査対象物を含んだ学習用画像をニューラルネットワークの入力層に複数入力して当該ニューラルネットワークに学習させることにより、前記検査対象画像を第1のクラスと第2のクラスに分類する分類器を生成する分類器生成手段と、 運用モード時に、前記検査対象画像を入力する画像入力手段と、 前記画像入力手段で入力された前記検査対象画像の画素値に基づいて、欠陥となり得る欠陥候補箇所を抽出するための欠陥候補抽出手段と、 抽出された欠陥候補箇所を含む領域に検査ウィンドウを設定する検査ウィンドウ設定手段と、 前記検査ウィンドウ設定手段により設定された前記検査ウィンドウ内の画像を前記分類器生成手段により生成された前記分類器に入力することにより、前記検査対象画像が前記第1のクラスと前記第2のクラスのいずれに分類されるかを判定する判定手段とを備えていることを特徴とする画像検査装置。
IPC (4件)：
G06T 7/00 ,  G01N 21/88 ,  G06N 3/04 ,  G06N 3/08
FI (5件)：
G06T7/00 350C ,  G01N21/88 J ,  G06T7/00 610B ,  G06N3/04 ,  G06N3/08
Fターム (22件)：
2G051AB01 ,  2G051AB02 ,  2G051AB03 ,  2G051BA20 ,  2G051CA03 ,  2G051CA04 ,  2G051EA12 ,  2G051EA14 ,  2G051EA30 ,  2G051EC06 ,  2G051EC10 ,  5L096BA03 ,  5L096CA02 ,  5L096EA13 ,  5L096EA43 ,  5L096GA07 ,  5L096GA17 ,  5L096GA51 ,  5L096HA11 ,  5L096KA04 ,  5L096KA15 ,  5L096MA07
引用特許：
審査官引用 (4件)
全件表示

前のページに戻る

TOP

BOTTOM