特許
J-GLOBAL ID：202003009121151783
X線位相撮影装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
宮園 博一
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2016-246689
公開番号（公開出願番号）：特開2018-099269
特許番号：特許第6683118号
出願日： 2016年12月20日
公開日（公表日）： 2018年06月28日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 X線源と、
前記X線源からX線が照射される第1格子と、前記第1格子を通過した前記X線が照射される第2格子と、を少なくとも含む複数の格子と、
前記第2格子を通過した前記X線を検出する検出部と、
前記X線源と前記第1格子の間もしくは前記第1格子と前記第2格子の間に被写体を配置した場合の、前記検出部により検出される前記X線の強度変化を表す強度変調信号と、前記被写体を配置しない場合の、前記強度変調信号と、の間の位相差に基づいて、画像を生成する画像生成部と、を備え、
複数の前記強度変調信号に基づいて、前記複数の格子の相対位置のずれ量を取得するとともに、取得した前記ずれ量が予め設定されたしきい値を越えたか否かを判断するように構成されており、
前記しきい値は、単一の画素の前記位相差、および、前記位相差の複数画素の領域または全域における前記位相差の代表値の少なくともいずれかがπ未満となるように設定されている、X線位相撮影装置。
IPC (3件)：
A61B 6/00 ( 200 6.01)
, A61B 6/06 ( 200 6.01)
, G01N 23/041 ( 201 8.01)
A61B 6/00 330 Z
, A61B 6/06 333
, G01N 23/041
