特許
J-GLOBAL ID:202003012682447259
半導体装置
発明者:
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出願人/特許権者:
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代理人 (1件):
特許業務法人快友国際特許事務所
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2016-025223
公開番号(公開出願番号):特開2017-143231
特許番号:特許第6639260号
出願日: 2016年02月12日
公開日(公表日): 2017年08月17日
請求項(抜粋):
【請求項1】 第1半導体層と、
前記第1半導体層の表面にヘテロ接合する第2半導体層と、
前記第2半導体層の表面上にあるドレイン電極と、
前記ドレイン電極から離れた位置で前記第2半導体層の表面上にあるソース電極と、
前記ドレイン電極と前記ソース電極の間の位置で前記第2半導体層の表面上にあるp型半導体層と、
前記p型半導体層に接するゲート電極と、を備え、
前記ドレイン電極と前記ソース電極の間の前記第2半導体層の表面の一部にリセスが形成されており、
前記p型半導体層は、前記リセスの前記ソース電極側の側面に接するとともに、前記リセス内で前記ソース電極側に偏在して位置する、半導体装置。
IPC (5件):
H01L 21/338 ( 200 6.01)
, H01L 29/778 ( 200 6.01)
, H01L 29/812 ( 200 6.01)
, H01L 21/337 ( 200 6.01)
, H01L 29/808 ( 200 6.01)
FI (2件):
H01L 29/80 H
, H01L 29/80 C
引用特許:
審査官引用 (3件)
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窒化物半導体デバイス
公報種別:公開公報
出願番号:特願2011-036493
出願人:インフィネオンテクノロジーズオーストリアアクチエンゲゼルシャフト
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窒化物系半導体装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2003-397147
出願人:株式会社東芝
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半導体装置及び半導体装置の製造方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願2011-211562
出願人:富士通株式会社
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