特許
J-GLOBAL ID：202003020220807660
磁場測定装置および磁場測定方法
発明者：
,
出願人/特許権者：
,
代理人 (1件)：
青木 修
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2018-126541
公開番号（公開出願番号）：特開2020-008298
出願日： 2018年07月03日
公開日（公表日）： 2020年01月16日
要約：
【課題】 ODMRを利用して低周波の交流磁場を正確に測定する磁場測定装置および磁場測定方法を得る。【解決手段】 コイル2は、被測定交流磁場内に配置される光検出磁気共鳴部材1にマイクロ波の磁場を印加する。高周波電源3は、コイル2にマイクロ波の電流を導通させる。照射装置4は、光検出磁気共鳴部材1に光を照射する。受光装置5は、光検出磁気共鳴部材1から発せられる光を検出する。そして、測定制御部21は、被測定交流磁場の所定位相に対する所定の直流磁場測定シーケンスを実行し、その直流磁場測定シーケンスにおいて、高周波電源3および照射装置4を制御し、受光装置5により検出された光の検出光量を特定する。磁場演算部22は、その所定位相および検出光量に基づいて、被測定交流磁場の強度を演算する。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
被測定交流磁場内に配置される光検出磁気共鳴部材と、
前記光検出磁気共鳴部材にマイクロ波の磁場を印加するコイルと、
前記コイルに前記マイクロ波の電流を導通させる高周波電源と、
前記光検出磁気共鳴部材に光を照射する照射装置と、
前記光検出磁気共鳴部材から発せられる光を検出する受光装置と、
前記被測定交流磁場の所定位相に対する所定の直流磁場測定シーケンスを実行し、前記直流磁場測定シーケンスにおいて、前記高周波電源および前記照射装置を制御し、前記受光装置により検出された前記光の検出光量を特定する測定制御部と、
前記所定位相および前記検出光量に基づいて、前記被測定交流磁場の強度を演算する磁場演算部と、
を備えることを特徴とする磁場測定装置。
IPC (2件)：
FI (4件)：
G01R33/24
, G01N24/00 560A
, G01N24/00 E
, G01N24/00 G
