特許
J-GLOBAL ID:201703021340260452

近接場プローブ構造および走査プローブ顕微鏡

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (4件): 福岡 昌浩 ,  阿部 廣美 ,  橘高 英郎 ,  白鳥 昌宏
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2015-194551
公開番号(公開出願番号):特開2017-067650
出願日: 2015年09月30日
公開日(公表日): 2017年04月06日
要約:
【課題】NV中心からの蛍光の検出効率を向上できる近接場プローブ構造を提供する。 【解決手段】近接場プローブ構造は、窒素-空孔複合体中心を含有するダイヤモンド部材と、窒素-空孔複合体中心に近接場下で励起光を照射し、励起光により窒素-空孔複合体中心から近接場下で生じた蛍光を取り出すことができるように、ダイヤモンド部材に対して固定的に配置された光照射取出部材と、を有する。【選択図】図2
請求項(抜粋):
窒素-空孔複合体中心を含有するダイヤモンド部材と、 前記窒素-空孔複合体中心に近接場下で励起光を照射し、前記励起光により前記窒素-空孔複合体中心から近接場下で生じた蛍光を取り出すことができるように、前記ダイヤモンド部材に対して固定的に配置された光照射取出部材と、 を有する近接場プローブ構造。
IPC (4件):
G01Q 60/38 ,  G01Q 60/22 ,  G01Q 60/32 ,  G01N 21/64
FI (5件):
G01Q60/38 101 ,  G01Q60/22 101 ,  G01Q60/32 ,  G01N21/64 Z ,  G01N21/64 G
Fターム (5件):
2G043AA01 ,  2G043EA01 ,  2G043EA14 ,  2G043HA05 ,  2G043HA15
引用特許:
審査官引用 (4件)
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