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J-GLOBAL ID：202102257326992628   整理番号：21A1421408

SOI技術を用いた新型X線撮像分光器の開発 47:X線SOIピクセル検出器のSEE耐性評価

著者 (31件)： 林田光揮 (東京理大) ,  幸村孝由 (東京理大) ,  萩野浩一 (東京理大) ,  北島正隼 (東京理大) ,  角町駿 (東京理大) ,  土居俊輝 (東京理大) ,  藤森蒼天 (東京理大) ,  前川航輝 (東京理大) ,  鶴剛 (京大) ,  田中孝明 (京大) ,  内田裕之 (京大) ,  佳山一帆 (京大) ,  児玉涼太 (京大) ,  松田真宗 (京大) ,  森浩二 (宮崎大) ,  武田彩希 (宮崎大) ,  西岡祐介 (宮崎大) ,  行元雅貴 (宮崎大) ,  米村修斗 (宮崎大) ,  三枝紀嵐 (宮崎大) ,  安藤大雅 (宮崎大) ,  石田辰徳 (宮崎大) ,  前野立樹 (宮崎大) ,  新井康夫 (KEK) ,  倉知郁生 (KEK) ,  北村尚 (QST) ,  川人祥二 (静岡丈) ,  安富啓太 (静岡丈) ,  上野宗孝 (JAXA) ,  尾崎正伸 (JAXA) ,  中嶋大 (関東学院大)
資料名： 日本天文学会年会講演予稿集
巻： 2021  号： 春季  ページ： 218  発行年： 2021年02月20日 
JST資料番号： S0300B  ISSN： 1347-0639  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

本文一部表示： 我々は次世代X線天文衛星「FORCE」への搭載を目的とし、SOI(Silicon On Insulator)技術を用いたX線半導体検出器「XRPIX」の開発を行なっている。半導体検出器を軌道上で運用した際、検出器は宇宙線等による損傷を受ける...【本文一部表示】

シソーラス用語： 宇宙線 ,  荷電粒子 ,  照射損傷 ,  半導体検出器 ,  放射線 ,  スペクトル ,  粒子ビーム ,  検出器 ,  *SOI構造 ,  *ピクセル検出器
準シソーラス用語： 評価実験 ,  X線天文衛星 ,  衛星搭載 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 流星,すい星,いん石  (DB04040A)

タイトルに関連する用語 (9件)： SOI技術 ,  X線撮像分光器 ,  開発 ,  X線 ,  SOI ,  ピクセル検出器 ,  SEE ,  耐性 ,  評価