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J-GLOBAL ID：202102291649129350   整理番号：21A0133204

陽電子消滅寿命測定による塗膜樹脂の自由体積空隙サイズ評価と劣化解析

Free Volume Hole Size Evaluation of Polymeric Coatings and Its Degradation Analysis Using Positron Annihilation Lifetime Spectroscopy

著者 (3件)： 石田崇人 (北大 大学院工学系研究科) ,  北垣亮馬 (北大 大学院工学系研究科) ,  萩原英昭 (産業技術総合研 機能化学研究部門)
資料名： 塗装工学  (Journal of Japan Coating Technology Association)
巻： 55  号： 12  ページ： 488-495  発行年： 2020年12月30日 
JST資料番号： S0871A  ISSN： 0285-3787  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 文献レビュー  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 陽電子消滅寿命分光法(PALS)は,高分子材料中のサブナノメートルスケールボイドを探査できるユニークな評価技術である。PALSで測定したオルトポジトロニウムの寿命は,高分子の自由体積空隙サイズに関係する。本稿では,PALSの原理に簡単に触れた後,塗膜樹脂の劣化の研究におけるPALSの適用について紹介した。アクリル-ウレタン塗膜の光劣化を,PALS,古典的な溶剤膨潤分析,および赤外分光法を用いて研究した。溶媒膨潤分析はナノスケール空隙の情報を分析し,PALSははるかに小さい空隙に対して敏感であるので,PALSと溶剤膨潤分析は相補的な技術である。これらの特性評価を用いて,劣化過程における内部構造変化を考察することができた。光劣化における化学修飾も赤外分光法によって監視した。アクリル-ウレタンの劣化のマルチスケール解析は,上記の技術を結合することによって実施できた。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： *塗膜 ,  スペクトロスコピー ,  陽電子消滅 ,  自由体積 ,  *光劣化 ,  非線形解析 ,  ポジトロニウム ,  アクリル樹脂 ,  ポリウレタン ,  内部構造 ,  架橋度 ,  *陽電子消滅分光法
準シソーラス用語： *陽電子消滅寿命分光法 ,  自由体積空隙 ,  マルチスケール解析 ,  オルソポジトロニウム ,  ウレタン樹脂 ,  溶剤膨潤分析 ,  架橋密度

分類 (1件)： 塗料の性質  (YJ03020Q)

引用文献 (10件)：

• 小林慶規,島津彰:陽電子科学, 1, 3 (2013)
• 斉藤晴雄:陽電子寿命測定法,陽電子科学, 2, 21 (2014)
• X. Yang, C. Vang, D. Tallman, G. Bierwagen, S. Croll, and S. Rohlik : Polym. Degrad. Stab., 74, 2 (2001)
• 石田崇人,北垣亮馬:塗装工学, 53, 4, (2018)
• T. Ishida, R. Kitagaki, S. Yamane, and H. Hagihara : Polym. Degrad. Stab., 162 (2019)

タイトルに関連する用語 (7件)： 陽電子消滅寿命 ,  塗膜 ,  自由体積 ,  空隙 ,  サイズ ,  評価 ,  解析