特許

J-GLOBAL ID：202103006256138955

集積回路マージン測定および故障予測装置

発明者： ランドマン,エブリン ,  コヘン,シャイ ,  デイビッド,ヤヘル ,  ファイネ,エヤル ,  ウェイントロブ,インバル
出願人/特許権者： プロテアンテクス リミテッド
代理人 (5件)： 高岡 亮一 ,  小田 直 ,  岩堀 明代 ,  三好 玲奈 ,  高橋 香元
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2020-545016
公開番号（公開出願番号）：特表2021-503091
出願日： 2018年11月15日
公開日（公表日）： 2021年02月04日
要約：

半導体集積回路(IC)は、複数の入力パスおよび出力パスを含む信号パス結合器を備える。ICは、出力パスに電気的に接続された入力を有する遅延回路を備え、遅延回路は、入力信号を可変遅延時間だけ遅延させて、遅延信号パスを出力する。ICは、出力パスに電気的に接続された第1の記憶回路と、遅延信号パスに電気的に接続された第2の記憶回路とを含んでもよい。ICは、信号パス結合器の出力と遅延信号とを比較する比較回路を備え、比較回路は、少なくとも1つの軽減回路への比較データ信号で提供される比較出力を含む。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

半導体集積回路(IC)であって、 複数の入力パスおよび出力を備えた信号パス結合器であって、前記出力が、各入力パスで受信されたそれぞれの信号の組み合わせに基づく、信号パス結合器と、 前記信号パス結合器の出力に電気的に接続された入力を有する遅延回路であって、入力信号を可変遅延時間だけ遅延させて遅延信号を出力する、遅延回路と、 前記信号パス結合器の出力と前記遅延信号との比較に基づいて比較出力を提供するように配設された比較回路であって、前記比較出力が、少なくとも1つの軽減回路への比較データ信号で提供される、比較回路と、を備える、IC。

IPC (1件)：

G01R 31/28

FI (1件)：

G01R31/28 V

Fターム (8件)：

2G132AA01 ,  2G132AB07 ,  2G132AD07 ,  2G132AG08 ,  2G132AK08 ,  2G132AK09 ,  2G132AL11 ,  2G132AL12

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 特許第9760672号
  
• 半導体集積回路の異常検出回路および異常検出装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2001-040648   出願人：エヌイーシーマイクロシステム株式会社
• 同期型半導体記憶装置およびそのテスト方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平11-010507   出願人：三菱電機株式会社
• 劣化診断回路及び半導体集積回路
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2006-329699   出願人：株式会社東芝