特許
J-GLOBAL ID：202103008766504622

イオンセンサ、イオン濃度の測定方法、および発酵物の製造方法

発明者：
新谷 幸弘

新谷 幸弘 について

, 
小河 晃太朗

小河 晃太朗 について


出願人/特許権者：
横河電機株式会社

横河電機株式会社 について


代理人 (4件)： 棚井 澄雄 ,  佐伯 義文 ,  高橋 久典 ,  沖田 壮男
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2016-096327
公開番号（公開出願番号）：特開2017-203718
特許番号：特許第6825228号
出願日： 2016年05月12日
公開日（公表日）： 2017年11月16日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 イオン感応性を有する固体材料を備え、参照極として機能するイオン電極と、 作用極として機能する電界効果トランジスタと、 前記電界効果トランジスタのソース電極とドレイン電極との間、および、前記ソース電極と前記イオン電極との間に電圧を印加する駆動回路と、を備え、 前記固体材料は、発酵物の原料、中間品、製品の何れかの液体に浸漬した際の電位が、前記液体中のイオン濃度に依存しない特性、または、前記液体中のイオン濃度に対して線形に変化する特性を有しており、 前記固体材料は、前記イオン電極を被測定液に浸漬した際に、前記被測定液の接液が可能とされている、 ことを特徴とするイオンセンサ。
IPC (4件)：
G01N 27/416 ( 200 6.01) ,  G01N 27/414 ( 200 6.01) ,  A23C 19/032 ( 200 6.01) ,  A23C 9/123 ( 200 6.01)
FI (6件)：
G01N 27/416 356 ,  G01N 27/414 301 E ,  G01N 27/416 351 K ,  G01N 27/416 353 Z ,  A23C 19/032 ,  A23C 9/123
引用特許：
審査官引用 (5件)
  • 半導体イオンセンサ
    公報種別：公開公報   出願番号：特願2002-343106   出願人：松下電工株式会社
  • pH測定装置及びpH測定方法
    公報種別：公開公報   出願番号：特願2004-319762   出願人：国立大学法人岡山大学
  • 特開平1-302154
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