外観検査システム

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：特許業務法人前田特許事務所
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2020-082753
公開番号（公開出願番号）：特開2021-177154
出願日： 2020年05月08日
公開日（公表日）： 2021年11月11日
要約：

【課題】外観検査において過判定品の発生に起因する生産性の低下を抑制する。【解決手段】外観検査システム(100)は、一次検査部(10)と、二次検査部(20)とを備える。一次検査部(10)は、対象物を撮像した画像に基づき、機械学習を用いずに不良判定を行う。二次検査部(20)は、一次検査部(10)で不良と判定された対象物の画像に基づき、第1の機械学習モデル(21)を用いて、真の不良品と過判定品とを分別する。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

対象物を撮像した画像に基づき、機械学習を用いずに不良判定を行う一次検査部(10)と、前記一次検査部(10)で不良と判定された対象物の画像に基づき、第1の機械学習モデル(21)を用いて、真の不良品と過判定品とを分別する二次検査部(20)とを備えることを特徴とする外観検査システム。

IPC (2件)：

G01N 21/956 , G06T 7/00

FI (2件)：

G01N21/956 B , G06T7/00 350B

Fターム (19件)：

2G051AA62 , 2G051AB14 , 2G051AC02 , 2G051AC21 , 2G051CA04 , 2G051CA11 , 2G051CB01 , 2G051EA08 , 2G051EA17 , 2G051EB01 , 5L096AA02 , 5L096BA03 , 5L096FA06 , 5L096GA08 , 5L096HA08 , 5L096HA11 , 5L096JA11 , 5L096KA04 , 5L096KA15

引用特許：

審査官引用 (6件)

特許第6653929号
画像パターン検査装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平6-302888 出願人：大日本スクリーン製造株式会社
欠陥分類方法及び装置
公報種別：公開公報出願番号：特願2003-089686 出願人：株式会社日立ハイテクノロジーズ

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