特許
J-GLOBAL ID：202103011114235671

測定方法、および測定装置

発明者：
岸本 恭介

岸本 恭介 について

, 
栗岡 秀治

栗岡 秀治 について

, 
福浦 篤臣

福浦 篤臣 について


出願人/特許権者：
京セラ株式会社

京セラ株式会社 について


代理人 (1件)： 西教 圭一郎
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2017-531056
特許番号：特許第6822957号
出願日： 2016年05月31日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 検出部材の表面に位置しており、第1検出対象物よりも第2検出対象物に高い反応性を有する第1反応物質と、第2検出対象物よりも第1検出対象物に高い反応性を有する第2反応物質とを準備する準備工程と、 試料を前記検出部材の表面に供給する供給工程と、 一回の前記試料の供給で、前記第1反応物質と前記試料との反応に基づく第1信号値と、前記第2反応物質と前記試料との反応に基づく第2信号値とを測定する測定工程と、 前記第1信号値および前記第2信号値に基づいて、前記試料における総検出対象物に対する前記第1検出対象物の比率を算出する算出工程と、を備える測定方法。
IPC (7件)：
G01N 33/543 ( 200 6.01) ,  G01N 33/53 ( 200 6.01) ,  G01N 5/02 ( 200 6.01) ,  G01N 29/02 ( 200 6.01) ,  G01N 21/41 ( 200 6.01) ,  G01N 27/00 ( 200 6.01) ,  G01N 27/414 ( 200 6.01)
FI (8件)：
G01N 33/543 515 D ,  G01N 33/53 D ,  G01N 33/543 595 ,  G01N 5/02 A ,  G01N 29/02 501 ,  G01N 21/41 101 ,  G01N 27/00 J ,  G01N 27/414 301 Z
引用特許：
出願人引用 (8件)
全件表示
審査官引用 (12件)
全件表示

前のページに戻る

TOP

BOTTOM