特許
J-GLOBAL ID：202103017819340650

測定装置及び測定方法

発明者：
井上 孝浩

井上 孝浩 について

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弥延 聡

弥延 聡 について

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松本 秀之

松本 秀之 について

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大友 文夫

大友 文夫 について


出願人/特許権者：
株式会社トプコン

株式会社トプコン について


代理人 (1件)： 三好 祥二
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2016-192895
公開番号（公開出願番号）：特開2018-054530
特許番号：特許第6807628号
出願日： 2016年09月30日
公開日（公表日）： 2018年04月05日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 測距光を射出する測距光射出部と、反射測距光を受光して測距を行う測距部と、前記測距光、前記反射測距光の共通光路に設けられ、前記測距光、前記反射測距光の光軸を同一の偏角、同一の方向で偏向する光軸偏向部と、該光軸偏向部を前記測距光の射出光軸を中心に回転させるモータと、該光軸偏向部による偏角、偏向方向を検出する射出方向検出部と、演算制御部とを具備し、前記測距光は前記光軸偏向部の回転により測定対象面に円状に走査され、前記演算制御部は、前記測定対象面上で取得された座標データに基づき正弦曲線を求め、該正弦曲線をフーリエ変換し、前記光軸偏向部の回転速度と一致する周波数成分の振幅、位相に基づき前記測定対象面の前記射出光軸に対する傾斜を測定する測定装置。
IPC (2件)：
G01B 11/26 ( 200 6.01) ,  G01C 15/00 ( 200 6.01)
FI (3件)：
G01B 11/26 Z ,  G01C 15/00 103 D ,  G01C 15/00 105 Z
引用特許：
出願人引用 (7件)
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審査官引用 (7件)
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