特許
J-GLOBAL ID:202103018260715639

半導体光素子、及びその製造方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 特許業務法人はるか国際特許事務所
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2016-188007
公開番号(公開出願番号):特開2018-054727
特許番号:特許第6807691号
出願日: 2016年09月27日
公開日(公表日): 2018年04月05日
請求項(抜粋):
【請求項1】 InP基板と、 前記InP基板の上面に接して配置され、積層方向に沿って少なくとも一部はn型不純物が添加される、第1半導体層と、 前記第1半導体層の上面に接して配置される、光吸収層と、 前記光吸収層の上面に接して配置され、積層方向に沿って少なくとも一部はp型不純物が添加される、第2半導体層と、 を備え、 前記第1半導体層において、前記InP基板との界面である第1界面におけるn型不純物濃度は、前記光吸収層との界面である第2界面におけるn型不純物濃度より高く、 前記第1半導体層は、前記第1界面のn型不純物濃度より低く、前記第2界面のn型不純物濃度よりもn型不純物濃度が高い部分を含み、 前記第2界面におけるp型不純物濃度と比較して、前記第1半導体層は、より高いp型不純物濃度となる部分を含み、 前記光吸収層は意図的に不純物が添加されない、 ことを特徴とする、半導体光素子。
IPC (2件):
G02F 1/017 ( 200 6.01) ,  H01L 31/10 ( 200 6.01)
FI (2件):
G02F 1/017 503 ,  H01L 31/10 A
引用特許:
審査官引用 (3件)

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