特許
J-GLOBAL ID:202103019944164603
トンネル型半導体素子
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (3件):
土井 健二
, 林 恒徳
, 眞鍋 潔
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2016-235155
公開番号(公開出願番号):特開2018-093054
特許番号:特許第6788190号
出願日: 2016年12月02日
公開日(公表日): 2018年06月14日
請求項(抜粋):
【請求項1】 半導体基板と、
前記半導体基板上に設けられた第1のn型半導体層と、
前記第1のn型半導体層上に設けられ、前記第1のn型半導体層の伝導帯の下端のエネルギー準位よりも低い伝導帯の下端のエネルギー準位を有する第2のn型半導体層と、
前記第2のn型半導体層上に設けられた第1のp型半導体層と、
前記第1のp型半導体層上に設けられ、前記第1のp型半導体層の価電子帯の上端のエネルギー準位よりも低い価電子帯の上端のエネルギー準位を有する第2のp型半導体層とを有し、
前記第1のp型半導体層の価電子帯上部と前記第2のn型半導体層の伝導帯下部とが0eV〜0.1eVの範囲で重なるトンネル型半導体素子。
IPC (6件):
H01L 21/329 ( 200 6.01)
, H01L 29/88 ( 200 6.01)
, H01L 29/205 ( 200 6.01)
, H01L 29/66 ( 200 6.01)
, H01L 21/20 ( 200 6.01)
, H01L 21/28 ( 200 6.01)
FI (5件):
H01L 29/88 Z
, H01L 29/205
, H01L 29/66 T
, H01L 21/20
, H01L 21/28 301 B
引用特許:
出願人引用 (4件)
-
半導体素子
公報種別:公開公報
出願番号:特願2009-188320
出願人:富士通株式会社
-
半導体装置及び受信機
公報種別:公開公報
出願番号:特願2012-056232
出願人:富士通株式会社
-
半導体装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2012-198509
出願人:富士通株式会社
-
半導体装置及び半導体装置の製造方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願2010-183616
出願人:富士通株式会社
全件表示
審査官引用 (2件)
-
半導体素子
公報種別:公開公報
出願番号:特願2009-188320
出願人:富士通株式会社
-
半導体装置及び受信機
公報種別:公開公報
出願番号:特願2012-056232
出願人:富士通株式会社
前のページに戻る