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J-GLOBAL ID：202202226535026316   整理番号：22A0064360

走査電子顕微鏡を用いたポリテトラフルオロエチレン(PTFE)中の弱い境界層の断面観察

Cross-sectional observation of a weak boundary layer in polytetrafluoroethylene (PTFE) using scanning electron microscope

著者 (6件)： Seto Yosuke (Graduate School of Engineering, Osaka University, Osaka, Japan) ,  Nishino Misa (Graduate School of Engineering, Osaka University, Osaka, Japan) ,  Okazaki Yuki (Graduate School of Engineering, Osaka University, Osaka, Japan) ,  Endo Katsuyoshi (Graduate School of Engineering, Osaka University, Osaka, Japan) ,  Yamamura Kazuya (Graduate School of Engineering, Osaka University, Osaka, Japan) ,  Ohkubo Yuji (Graduate School of Engineering, Osaka University, Osaka, Japan)
資料名： Polymer Journal  (Polymer Journal)
巻： 54  号： 1  ページ： 79-81  発行年： 2022年01月 
JST資料番号： F0612A  ISSN： 0032-3896  CODEN： POLJB8  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： ドイツ (DEU)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 高分子表面における弱い境界層(WBL)は,不十分な接着を引き起こすが,そのようなWBLはキャラクタリゼーションあるいは定量化されていない。本研究では,ポリテトラフルオロエチレン(PTFE)のWBLをキャラクタリゼーションするために,走査電子顕微鏡を用いてPTFEの断面を観察し,表面とバルク側を比較した。PTFE表面のボイドを観察したが,バルク側では観察しなかった。これらのボイドはPTFEの最外表面から5μmまで存在した。ボイドの存在または不在によりWBLを定義し,PTFE中のWBLの厚さは単一マイクロメータのオーダであると結論した。ポリテトラフルオロエチレン(PTFE)は表面に弱い境界層(WBL)を有する。PTFEの断面を走査型電子顕微鏡を用いて観察し,WBLとバルク層の間の形態の違いを調べた。直径0.5~2.0μmの大きなボイドがPTFEの表面側で観察されたが,バルク側では観察されなかった。これらのボイドはPTFEの最外表面から約5μmまで存在した。この結果は,PTFEのWBLの厚みが単一μmのオーダーであることを示した。Copyright The Author(s), under exclusive licence to The Society of Polymer Science, Japan 2021 Translated from English into Japanese by JST.

シソーラス用語： *ポリテトラフルオロエチレン ,  *走査電子顕微鏡 ,  *境界層 ,  表面分析 ,  モルフォロジー ,  空洞 ,  破面 ,  破面検査 ,  電子顕微鏡観察
準シソーラス用語： ボイド【空洞】 ,  走査電子顕微鏡観察 ,  破面テスト

分類 (2件)： 高分子固体の構造と形態学  (CG02022M) ,  電子顕微鏡,イオン顕微鏡  (BD02050B)

タイトルに関連する用語 (5件)： 走査電子顕微鏡 ,  ポリテトラフルオロエチレン ,  PTFE ,  境界層 ,  観察