特許
J-GLOBAL ID：202203010549488173
温度測定装置、温度測定方法及び温度減衰測定方法
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (1件)：
和泉 順一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2020-107686
公開番号（公開出願番号）：特開2022-003309
出願日： 2020年06月23日
公開日（公表日）： 2022年01月11日
要約：
【課題】被測定体の温度を高精度、高確度及び高速応答性をもって計測することができるとともに、測定用の薄膜感温素子の温度を被測定体の温度より低い関係に保持することが可能な温度測定装置、温度測定方法及び温度減衰測定方法を提供する。【解決手段】温度測定装置10は、温度を感知する感温部41と、前記感温部41を被測定体に接触させることにより、温度を測定可能な測定用の薄膜感温素子1と、前記測定用の薄膜感温素子1と断熱層S1を介して熱交換可能に配置され、前記測定用の薄膜感温素子1と温度が等しくなるように制御される保護加熱用の薄膜感温素子2と、前記測定用の薄膜感温素子1を、前記被測定体の温度より一定温度低い温度状態にすることが可能な温度制御素子3と、前記測定用の薄膜感温素子1、前記保護加熱用の薄膜感温素子2及び前記温度制御素子3を制御する制御処理部5と、を具備している。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
温度を感知する感温部と、
前記感温部を被測定体に接触させることにより、温度を測定可能な測定用の薄膜感温素子と、
前記測定用の薄膜感温素子と断熱層を介して熱交換可能に配置され、前記測定用の薄膜感温素子と温度が等しくなるように制御される保護加熱用の薄膜感温素子と、
前記測定用の薄膜感温素子を、前記被測定体の温度より一定温度低い温度状態にすることが可能な温度制御素子と、
前記測定用の薄膜感温素子、前記保護加熱用の薄膜感温素子及び前記温度制御素子を制御する制御処理部と、
を具備することを特徴とする温度測定装置。
IPC (3件)：
G01K 7/22
, A61B 10/00
, A61B 5/01
G01K7/22 Q
, G01K7/22 A
, A61B10/00 T
, A61B10/00 Q
, A61B5/01 150
4C117XA01
, 4C117XB01
, 4C117XC01
, 4C117XC19
, 4C117XD05
, 4C117XE03
, 4C117XE23
, 4C117XJ42
, 4C117XN01
