【請求項1】酸化物半導体によるTFTを有するTFT回路基板であって、 前記TFTは、酸化物半導体を覆ってゲート絶縁膜が形成され、前記ゲート絶縁膜の上にゲート電極が形成され、 前記酸化物半導体の前記ゲート電極で覆われた部分と前記ゲート電極で覆われていない部分は、第1層間絶縁膜で覆われ、前記第1層間絶縁膜は第1の膜で覆われ、前記第1の膜は、第1のAlO膜で覆われており、 前記第1層間絶縁膜と前記酸化物半導体あるいは前記ゲート電極の間には第2のAlO膜が形成されていることを特徴とするTFT回路基板。
G09F 9/30 ( 200 6.01)
, G02F 1/1368 ( 200 6.01)
, G02F 1/1333 ( 200 6.01)
, H01L 51/50 ( 200 6.01)
, H05B 33/02 ( 200 6.01)
, H01L 29/786 ( 200 6.01)
, H01L 21/336 ( 200 6.01)
, H01L 21/8234 ( 200 6.01)
, H01L 27/06 ( 200 6.01)
, H01L 21/28 ( 200 6.01)
, H01L 21/768 ( 200 6.01)
, H01L 23/532 ( 200 6.01)