特許
J-GLOBAL ID：202203018902846233

測定制御装置及びプログラム

発明者：
阿部 信策

阿部 信策 について

, 
草▲なぎ▼ 英幸

草▲なぎ▼ 英幸 について


出願人/特許権者：
株式会社ミツトヨ

株式会社ミツトヨ について


代理人 (1件)： 折坂 茂樹
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2018-144535
公開番号（公開出願番号）：特開2020-020658
特許番号：特許第7065724号
出願日： 2018年07月31日
公開日（公表日）： 2020年02月06日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 検出範囲内に存在する物体の3次元空間における位置及び3次元形状を検出する3次元センサ部と、前記3次元センサ部により検出された対象被測定物の3次元形状を視認可能に表示する表示部と、 複数の被測定物のそれぞれについて、前記被測定物の3次元形状の情報、及びそれぞれ前記3次元形状における測定箇所を特定する情報と当該測定箇所における測定内容を示す情報とからなる各測定箇所の測定情報とそれぞれの測定情報の入力順序を示す情報とを含む測定手順情報を、予め記憶する測定手順情報記憶部と、 前記3次元センサ部により検出された前記対象被測定物の3次元形状について、前記測定手順情報記憶部を検索して略同一の3次元形状を有する前記被測定物を特定し、特定された前記被測定物の前記測定手順情報を、前記対象被測定物の測定手順情報として前記測定手順情報記憶部から抽出する測定手順情報抽出手段と、 前記3次元センサ部による検出座標系が使用測定機の座標系として設定されるように前記使用測定機を制御する座標系設定手段と、 前記対象被測定物の測定手順情報に基づき、前記使用測定機における前記対象被測定物の測定を実現する制御手段と、を備える測定制御装置。
IPC (3件)：
G01B 21/20 ( 200 6.01) ,  G01B 21/00 ( 200 6.01) ,  G05B 19/42 ( 200 6.01)
FI (3件)：
G01B 21/20 101 ,  G01B 21/00 E ,  G05B 19/42 J
引用特許：
審査官引用 (4件)
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