Research keywords (16):
Strontium titanate
, perovskite metal oxide
, Prussian Blue Analogues; PBA
, surface&interface ultra-high-vacuum UHV low-temperatures scanning-probe-microscope SPM atomic-force-microscope AFM scanning-tunneling-microscope STM silicon semiconductors surface-electron-diffraction
, 半導体 表面電子線回折
, シリコン
, 走査電子顕微鏡
, 原子分解能
, 原子間力顕微鏡 走査型トンネル顕微鏡
, 走査型プローブ顕微鏡
, 極低温
, 超高真空
, 表面・界面
, Development of scanning probe microscope for use in extreme conditions and applications for surface electrical conductivities /magnetic properties measurements.
, 極限環境で動作する走査型プローブ顕微鏡を用いた表面電気磁気特性評価
, 薄膜・表面界面物性