Research keywords (12):
半導体評価技術
, 量子構造
, 電子デバイス材料
, 光デバイス材料
, エピタキシ
, 半導体
, characterization techniques
, quantum structures
, electronic device materials
, photonic device materials
, epitaxy
, semiconeductors
アメリカ物理学会
, e-Journal of surface Science and Nanotechnology
, 日本表面科学会
, 物理学会
, 電気学会
, 応用物理学会
, American Institute of Physics
, e-Journal of surface Science and Nanotechnology
, 日本表面科学会
, 物理学会
, 電気学会
, 応用物理学会