故障推定装置及び方法

Inventor： , , , , , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (3)：山田卓二 , 田中光雄 , 川端純市
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2010091488
Publication number (International publication number)：2010204107
Application date： Apr. 12, 2010
Publication date： Sep. 16, 2010
Summary：

【課題】被検査回路の隣接信号線における信号変化の動的干渉によって論理値変化が生じる故障を高精度で検出する。【解決手段】被検査回路の各信号線の故障を検査する故障検査装置において、被検査回路の検査対象の信号線で故障を仮定する故障信号線と、故障信号線からある範囲内にある少なくとも1つの隣接信号線との間のレイアウト情報、製造パラメータ情報及びタイミング情報に基づいて、故障信号線と各隣接信号線との間の故障励起条件の適合結果を表す故障励起関数を用いて、故障信号線に関する故障励起関数の値を計算し、計算された故障励起関数の値に基づいて故障信号線で動的故障が励起したか否かを判断する。故障信号線と複数の隣接信号線との間の各故障発生関数の値の総和を計算し総和を隣接信号線の数で除算して故障発生関数の平均値を計算し平均値がしきい値以上であるか否かに基づいて故障信号線で動的故障が発生したか否かを判断する。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

複数の信号線を含む被故障推定回路の各信号線の故障を推定する故障推定装置において、上記被故障推定回路の故障推定対象の信号線において故障を仮定する故障信号線と、上記故障信号線から所定の範囲内にある少なくとも1つの隣接信号線との間のレイアウト情報、製造パラメータ情報及びタイミング情報に基づいて、上記故障信号線と上記各隣接信号線との間の所定の故障発生条件の適合結果を表す故障発生関数を用いて、上記故障信号線に関する故障発生関数の値を計算し、上記計算された故障発生関数の値に基づいて上記故障信号線において動的故障が発生したか否かを判断する制御手段を備え、上記制御手段は、上記故障信号線と上記複数の隣接信号線との間の各故障発生関数の値の総和を計算し、上記計算された総和を上記隣接信号線の数で除算して故障発生関数の平均値を計算し、上記計算された故障発生関数の平均値が所定のしきい値以上であるか否かに基づいて上記故障信号線において動的故障が発生したか否かを判断することを特徴とする故障推定装置。

IPC (2)：

G01R 31/28 , G06F 17/50

FI (3)：

G01R31/28 F , G06F17/50 670J , G06F17/50 670D

F-Term (12)：

2G132AA01 , 2G132AC09 , 2G132AL00 , 2G132AL11 , 2G132AL12 , 5B046AA08 , 5B046BA04 , 5B046DA05 , 5B046GA01 , 5B046HA03 , 5B046JA03 , 5B046JA05

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

特開平4-062487
特開平4-062487
半導体論理回路装置の故障診断方法、装置、及び半導体論理回路装置の故障診断プログラムを記憶した記憶媒体
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2004-305064 Applicant：国立大学法人九州工業大学

Article cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

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