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J-GLOBAL ID：200902115649665935   Reference number：02A0609423

Fault Diagnosis of a Logical Circuit by Use of M-Sequence Correlation with Neural Network.

M系列相関とニューラルネットワークを用いる論理回路の故障診断

Author (1)： MIYATA CHIKARA (鹿児島工高専)
Material： 計測自動制御学会論文集  (Transactions of the Society of Instrument and Control Engineers)
Volume： 38  Issue： 6  Page： 517-520  Publication year： Jun. 30, 2002 
JST Material Number： S0104A  ISSN： 0453-4654  CODEN： KJSRA  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *fault diagnosis ,...
Semi thesaurus term： M-sequence signal

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JST classification (2)： Logic circuits  (NC05070B) ,  Artificial intelligence  (JE08000Z)

Reference (16)：

• YAU, S. S. An Efficient Algorithm for Generating Complete Test Sets for Combinational Logic Circuits. IEEE Trans. on Computers. 1971, C-20, 1245-1251
• 玉本英夫. 論理回路の故障診断. 1983
• 樹下. ディジタル回路の故障診断. 1983, 上
• AGRAWAL, P. Probabilistic Analysis of Random Test Generation Method for Irredundant Combinational Logic Networks. IEEE Trans. on Computers. 1975, C-24-7, 691-694
• DAVID, R. Fault Diagnosis of RAM's from Random Testing Experiments. IEEE Trans. on Computers. 1990, 39-2, 220-229

Terms in the title (5)： M系列 ,  相関 ,  ニューラルネットワーク ,  論理回路 ,  故障診断