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J-GLOBAL ID：200902203862785452   Reference number：05A0155184

Surface structure analysis of Zr-O/W(100) at high temperature by x-ray photoelectron diffraction

X線光電子回折による高温でのZr-O/W(100)の表面構造分析

Author (9)： TAMURA K (Univ. Tokyo, Tokyo, JPN) ,  AMANO M (Univ. Tokyo, Tokyo, JPN) ,  CHU W-G (Univ. Tokyo, Tokyo, JPN) ,  KAWANO T (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  NAGATOMI T (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  TAKAI Y (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  OSHIMA C (Waseda Univ., Tokyo, JPN) ,  SHIMIZU R (Osaka Inst. of Technol., Osaka, JPN) ,  NIHEI Y (Sci. Univ. Tokyo, Chiba, JPN)
Material： Surface and Interface Analysis  (SIA)
Volume： 37  Issue： 2  Page： 217-220  Publication year： Feb. 2005 
JST Material Number： E0709A  ISSN： 0142-2421  CODEN： SIANDQ  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： United Kingdom (GBR)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *X-ray photoelectron diffraction ,...

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JST classification (3)： Other physical chemistry in general  (CB01030T) ,  Electron spectroscopic determination of structures  (BK01050P) ,  Surface structure of solids in general  (BK15010E)

Terms in the title (3)： X線光電子回折 ,  Zr ,  構造分析