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J-GLOBAL ID：200902240679911522   Reference number：08A0468826

赤外吸収測定によるDNA薄膜の構造と物性評価

Author (10)： TAJIRI KENJI (熊本大 大学院自然科学研究科) ,  KUBO SHOJI (熊本大 大学院自然科学研究科) ,  YAMAGUCHI KEIJI (熊本大 大学院自然科学研究科) ,  YOKOI HIROYUKI (熊本大 大学院自然科学研究科) ,  WATANABE JUNJI (熊本大 大学院自然科学研究科) ,  KURODA NORITAKA (熊本大 大学院自然科学研究科) ,  HASANUDIN (東北大 大学院理学研究科) ,  TOYODA NAOKI (東北大 大学院理学研究科) ,  TANIGUCHI MASAKI (大阪大 産科研) ,  KAWAI TOMOJI (大阪大 産科研)
Material： 熊本県産学官技術交流会講演論文集
Volume： 21st  Page： 84-85  Publication year： 2007 
JST Material Number： L6063A  Document type： Proceedings
Article type： 短報  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *infrared absorption spectrum ,  *DNA ,  spin coating ,  *thin film ,  *film thickness ,  refractive index ,  temperature dependence

JST classification (1)： Infrared spectra,Raman scattering and Raman scattering of organic compounds  (BM08064T)

Terms in the title (4)： 赤外吸収 ,  DNA ,  薄膜 ,  物性評価