Pat
J-GLOBAL ID:200903000346928781
窒化物半導体層の形成方法
Inventor:
,
,
,
Applicant, Patent owner:
,
Agent (6):
深見 久郎
, 森田 俊雄
, 仲村 義平
, 堀井 豊
, 野田 久登
, 酒井 將行
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2006230344
Publication number (International publication number):2008053593
Application date: Aug. 28, 2006
Publication date: Mar. 06, 2008
Summary:
【課題】サファイア基板と窒化物半導体層との間に低温バッファ層を介在させることなく、平坦で高品質の無極性窒化物半導体層を結晶成長させる窒化物半導体層の形成方法を提供する。【解決手段】窒化物系半導体層の形成方法は、窒化物系半導体層の形成前にサファイア基板の一主面を800°Cから1200°Cの範囲の温度で窒化処理し、その窒化処理されたサファイア基板面上に有機金属気相成長法により窒化物半導体層を結晶成長させる。【選択図】図4
Claim (excerpt):
サファイア基板の一主面を窒化処理し、
前記窒化処理された前記主面上に窒化物半導体層を結晶成長させることを特徴とする窒化物半導体層の形成方法。
IPC (8):
H01L 21/205
, H01L 33/00
, H01S 5/323
, C30B 29/38
, C30B 25/18
, C23C 16/02
, C23C 16/34
, H01L 21/318
FI (9):
H01L21/205
, H01L33/00 C
, H01S5/323 610
, C30B29/38 D
, C30B25/18
, C23C16/02
, C23C16/34
, H01L21/318 B
, H01L21/318 M
F-Term (57):
4G077AA02
, 4G077AA03
, 4G077AB02
, 4G077BE15
, 4G077DB08
, 4G077EC09
, 4G077ED05
, 4G077ED06
, 4G077EE06
, 4G077HA02
, 4G077TA04
, 4G077TA06
, 4G077TB05
, 4G077TC01
, 4G077TC13
, 4G077TK01
, 4G077TK06
, 4K030AA11
, 4K030AA13
, 4K030BA08
, 4K030BA38
, 4K030CA05
, 4K030DA02
, 4K030FA10
, 4K030HA01
, 4K030JA06
, 4K030JA10
, 4K030JA11
, 4K030LA14
, 5F041AA40
, 5F041CA23
, 5F041CA40
, 5F041CA46
, 5F041CA65
, 5F045AA04
, 5F045AB14
, 5F045AC08
, 5F045AC12
, 5F045AD15
, 5F045AF09
, 5F045BB12
, 5F045CA10
, 5F045CA12
, 5F058BA06
, 5F058BB06
, 5F058BC09
, 5F058BF56
, 5F058BF64
, 5F173AG11
, 5F173AH22
, 5F173AH44
, 5F173AP06
, 5F173AP24
, 5F173AQ12
, 5F173AQ16
, 5F173AR84
, 5F173AR92
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (1)
Cited by examiner (2)
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