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J-GLOBAL ID:200903000573796638

硬さ測定器および硬さ測定装置、ならびに硬さ評価方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (4): 植木 久一 ,  菅河 忠志 ,  二口 治 ,  伊藤 浩彰
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2005065908
Publication number (International publication number):2006250633
Application date: Mar. 09, 2005
Publication date: Sep. 21, 2006
Summary:
【課題】 本発明は、対象物の硬さを容易に測定できる測定器および該測定器を備えた測定装置、ならびに硬さを評価する方法を提示することを課題とした。【解決手段】本発明は、 対象物の硬さを測定するための測定器であって、 対象物に押圧される球状接触面を有する接触子と、該押圧時の接触面積を測定する機構を有する接触面積測定部と、該押圧に伴う対象物からの反力を測定する応力測定部とを備えたことを特徴とする硬さ測定器を提供することで上記課題を解決した。
Claim (excerpt):
対象物の硬さを測定するための測定器であって、 対象物に押圧される球状接触面を有する接触子と、該押圧時の接触面積を測定する機構を有する接触面積測定部と、該押圧に伴う対象物からの反力を測定する応力測定部とを備えたことを特徴とする硬さ測定器。
IPC (3):
G01N 3/40 ,  A61B 5/00 ,  G01N 3/42
FI (4):
G01N3/40 A ,  A61B5/00 101L ,  A61B5/00 101M ,  G01N3/42 D
F-Term (5):
4C117XA01 ,  4C117XB01 ,  4C117XD24 ,  4C117XD27 ,  4C117XE27
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (5)
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