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J-GLOBAL ID：200903000639583355

ガス濃度計測方法および装置

Inventor：
田浦 昌純

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牟田 研二

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近藤 明生

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加藤 英治

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浅海 慎一郎

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粟屋 伊智郎

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瀧田 篤史

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Applicant, Patent owner：
三菱重工業株式会社

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Agent (2)： 高橋 昌久 ,  松本 廣
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2008066768
Publication number (International publication number)：2009222527
Application date： Mar. 14, 2008
Publication date： Oct. 01, 2009
Summary：
【課題】ボイラー、ごみ焼却炉、燃焼機関の燃焼室等の密閉容器内に発生するガス、あるいは該密閉容器から外部に排出されるガス等のガス濃度を、レーザ光を用いての測定であって、複数種のガス濃度を、効率よく簡単なシステムで計測可能とするガス濃度計測方法および計測装置を提供することを課題とする。【解決手段】測定ガス雰囲気内に特定波長のレーザ光を照射して、該特定波長のレーザ光の吸収量からガス濃度を計測するガス濃度計測方法において、1個のレーザダイオードの駆動電流による波長掃引範囲内で、隣接するガス吸収波長の間を、前記駆動電流を交互に切り換えて、1個のレーザダイオードから2種のガスに対応するレーザ光を時分割して生成し、該生成されたそれぞれのレーザ光を同一のレーザビームによって照射し、照射されたレーザ光を受光して得られる受光信号から2種のガス濃度を求める。【選択図】図1
Claim (excerpt)：
測定ガス雰囲気内に特定波長のレーザ光を照射して、該特定波長のレーザ光の吸収量からガス濃度を計測するガス濃度計測方法において、 1個のレーザダイオードの駆動電流による波長掃引範囲内で、隣接するガス吸収波長の間を、前記駆動電流を交互に切り換えて、1個のレーザダイオードから2種のガスに対応するレーザ光を時分割して生成し、該生成されたそれぞれのレーザ光を同一のレーザビームによって照射し、照射されたレーザ光を受光して得られる受光信号から2種のガス濃度を求めることを特徴とするガス濃度計測方法。
IPC (1)：
G01N 21/39
FI (1)：
G01N21/39
F-Term (20)：
2G059AA01 ,  2G059BB01 ,  2G059CC05 ,  2G059EE01 ,  2G059EE11 ,  2G059EE17 ,  2G059FF09 ,  2G059FF10 ,  2G059GG01 ,  2G059GG02 ,  2G059GG03 ,  2G059GG06 ,  2G059GG09 ,  2G059HH01 ,  2G059HH06 ,  2G059JJ02 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ17 ,  2G059KK03 ,  2G059MM05
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (13)
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Cited by examiner (21)
  • 特開平4-042041
  • 特開平4-042041
  • 特開平4-042041
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