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J-GLOBAL ID:200903067054747740
赤外線レーザ成分検出装置
Inventor:
,
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
役 昌明 (外4名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2000105513
Publication number (International publication number):2001289785
Application date: Apr. 06, 2000
Publication date: Oct. 19, 2001
Summary:
【要約】【課題】 装置の操作性と耐環境性を向上させ、重量、体積を軽減したppb(10-9)レベルの微量ガス成分を光学的に検出する装置を提供すること。【解決手段】 第1の波長域にスペクトル線を有する第1レーザ光線と、第1の波長域より短波長あるいは長波長にスペクトル線を有する第2レーザ光線とをアイソレーター11b、12bおよび光ファイバー11a、12aを介して導光し、光合波器15により合波した後、差周波発生用非線形光学結晶10により中赤外線領域(2〜9μm)で狭帯域レーザ光線を発生させ、この狭帯域レーザ光線の微量ガス成分による吸収に基づいて微量ガス成分を検出し定量するものである。第2のレーザ光線の波長域を外部制御装置6によって変化させ、検出すべき微量ガス成分の吸収波長に同調させて、成分検出と定量をすることができる。
Claim (excerpt):
第1の波長域にスペクトル線を有する第1レーザ光線と、上記第1の波長域より短波長あるいは長波長にスペクトル線を有する第2レーザ光線とをアイソレーターおよび光ファイバーを介して導光し、光合波器により合波した後、差周波発生用非線形光学結晶により中赤外線領域(2〜9μm)で狭帯域レーザ光線を発生させ、該狭帯域レーザ光線の微量ガス成分による吸収に基づいて微量ガス成分を検出し定量する赤外線レーザ成分検出装置。
F-Term (22):
2G059AA01
, 2G059BB01
, 2G059CC20
, 2G059DD12
, 2G059EE01
, 2G059FF06
, 2G059FF10
, 2G059GG01
, 2G059GG02
, 2G059GG03
, 2G059GG09
, 2G059HH01
, 2G059HH06
, 2G059HH08
, 2G059JJ02
, 2G059JJ05
, 2G059JJ11
, 2G059JJ14
, 2G059JJ17
, 2G059JJ30
, 2G059KK01
, 2G059NN05
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (5)
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差周波光発生装置およびこれを用いた赤外吸収分析装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-144678
Applicant:三井化学株式会社
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レーザ分光分析装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平7-042971
Applicant:森村正直, 横河電機株式会社
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ガス検知装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平3-230981
Applicant:東京瓦斯株式会社
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ガス濃度測定方法及びその装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平7-144809
Applicant:東京電力株式会社, 日立電線株式会社
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特開昭62-232536
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