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J-GLOBAL ID：200903000793747379

集積回路

Inventor：
横山 秀和

About 横山 秀和


Applicant, Patent owner：
沖電気工業株式会社

About 沖電気工業株式会社


Agent (1)： 柿本 恭成
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001124465
Publication number (International publication number)：2002319626
Application date： Apr. 23, 2001
Publication date： Oct. 31, 2002
Summary：
【要約】【課題】 機能ブロック間の配線の検査ができるICを提供する。【解決手段】 機能ブロック1,2は、それぞれ接続切替部10,20を介してブロック間配線3a〜3cに接続される。接続切替部10,20は、ブロック間配線3a〜3cに直列に挿入されたTG(トランスファ・ゲート)と、これらのブロック間配線3a〜3cを相互に接続するためのTGを有している。各TGは切替制御部14,24からの制御信号でオン/オフされる。従って、ブロック間配線3a〜3cを任意に切り替えて接続し、試験用の出力信号SO1を内部ノードN1a等に与え、これらのブロック間配線3a〜3cを通って内部ノードN2cに伝達された入力信号SI2をチェックする。これにより、ブロック間配線の断線や短絡を検査することができる。
Claim (excerpt)：
所定の機能を有する複数の機能ブロックと、これらの機能ブロック間を接続する複数のブロック間配線とを備えた集積回路において、前記機能ブロックと前記ブロック間配線の間に配置され、試験信号によって該機能ブロックと複数の内部ノードとの間の接続を一括してオン/オフする第1のスイッチ手段と、個別の制御信号によって前記内部ノードと前記ブロック間配線との間の接続を個別にオン/オフする第2のスイッチ手段と、個別の制御信号によって前記複数の内部ノードの間の接続を個別にオン/オフする第3のスイッチ手段とを、設けたことを特徴とする集積回路
IPC (3)：
H01L 21/822 ,  G01R 31/28 ,  H01L 27/04
FI (3)：
H01L 27/04 T ,  H01L 27/04 D ,  G01R 31/28 V
F-Term (12)：
2G132AA00 ,  2G132AA15 ,  2G132AC03 ,  2G132AD15 ,  2G132AK07 ,  2G132AK11 ,  2G132AL09 ,  2G132AL11 ,  5F038CD05 ,  5F038DF16 ,  5F038DT02 ,  5F038DT11
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (5)
  • 半導体装置テスト回路
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平10-020312   Applicant：日本電気株式会社
  • 論理回路及びその試験方法
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平7-281631   Applicant：株式会社東芝
  • 半導体集積回路
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平7-025128   Applicant：日本電気株式会社
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