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J-GLOBAL ID:200903003050093497
磁界プローブ装置及び磁界の測定方法
Inventor:
,
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
井上 学
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2006005483
Publication number (International publication number):2007187539
Application date: Jan. 13, 2006
Publication date: Jul. 26, 2007
Summary:
【課題】 磁界測定用ループ状プローブに生じる電圧降下を最小化し、簡易な構成にて高感度な測定を可能とする磁界プローブ装置を提供する。 【解決手段】 本発明による磁界プローブ装置は、ループ状プローブとこれに間隙を隔てて対向する引き出し伝送線路とを備え、当該ループ状プローブの形状及びその当該引き出し伝送線路に対する配置は、このループ状プローブと引き出し伝送線路との間に形成される容量とループ状プローブのインダクタンスとで決まる共振周波数が測定対象(電子機器等)の近傍における磁界又はこれを発生させる電気信号の周波数に合うように調整される。このように構成される磁界プローブ装置により、測定対象近傍における特定周波数の磁界が高感度で検知される。【選択図】 図1
Claim (excerpt):
測定対象から発生する磁界を検知するプローブ素子と、
該プローブ素子で検知された該磁界に応じて電圧又は電流を誘起する負荷素子を介して電気的に接続される少なくとも一対の伝送線路と、
該測定対象に対する該プローブ素子の位置を制御する制御装置とを備え、
前記プローブ素子は、前記制御装置により前記測定対象に近づけられる該プローブ素子の検知側からその両端が該検知側の反対側に夫々延びる少なくとも一つの導体線路を有し、
前記少なくとも一つの導体線路の前記両端の少なくとも一方は、前記プローブ素子の検知側の反対側で前記伝送線路の一つと間隙を介して対向して、該導体線路の一端と該一つの伝送線路との間に容量を形成する
ことを特徴とする磁界プローブ装置。
IPC (3):
G01R 31/302
, G01R 33/02
, G01R 29/08
FI (3):
G01R31/28 L
, G01R33/02 B
, G01R29/08 D
F-Term (7):
2G017AA01
, 2G017AC08
, 2G017AD04
, 2G132AA00
, 2G132AE16
, 2G132AE23
, 2G132AF16
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (5)
-
磁界プローブ
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-348266
Applicant:株式会社日立製作所
-
電磁波発生源探査装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2002-084749
Applicant:株式会社日立製作所
-
電磁界測定方法および測定装置、ならびに半導体装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2003-368353
Applicant:株式会社日立製作所
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Cited by examiner (3)
Article cited by the Patent:
Cited by applicant (1)
Cited by examiner (1)
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