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J-GLOBAL ID：200903003185844743

測定システム

Inventor：
染 真人

About 染 真人

, 
小倉 信彦

About 小倉 信彦


Applicant, Patent owner：
富士写真フイルム株式会社

About 富士写真フイルム株式会社


Agent (2)： 柳田 征史 ,  佐久間 剛
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2004294816
Publication number (International publication number)：2006105858
Application date： Oct. 07, 2004
Publication date： Apr. 20, 2006
Summary：
【課題】 測定した試料に関する特性値をグラフ表示する測定システムにおいて、グラフ化されていない試料特性や、グラフ化されている試料特性の詳細を簡単かつ迅速に表示可能とする。【解決手段】 試料に対して所定の測定を行う測定装置と、表示手段21と、測定装置が得た試料に関する特性を、表示手段21において、複数次元の空間にプロットされたグラフの形で表示させるグラフ表示制御手段20とを備えてなる測定システムにおいて、表示手段21に表示されたグラフ上で、所望のプロット点を選択する選択手段502を設け、こうして選択されたプロット点を持つ試料の特性を、文字表示制御手段20によって、グラフとは別の文字情報Wとして表示させる。【選択図】 図10
Claim (excerpt)：
試料に対して所定の測定を行う測定装置と、 表示手段と、 前記測定装置が得た試料に関する特性を、前記表示手段において、複数次元の空間にプロットされたグラフの形で表示させるグラフ表示制御手段とを備えてなる測定システムにおいて、 前記表示手段に表示されたグラフ上で、所望のプロット点を選択する選択手段と、 この選択手段によって選択されたプロット点を持つ試料の特性を、前記グラフとは別の文字情報として表示させる文字表示制御手段とが設けられたことを特徴とする測定システム。
IPC (2)：
G01N 21/27 ,  G01N 21/03
FI (2)：
G01N21/27 C ,  G01N21/03 Z
F-Term (28)：
2G057AA02 ,  2G057AB07 ,  2G057AC01 ,  2G057BA01 ,  2G057BB06 ,  2G057GA00 ,  2G057GA01 ,  2G059AA01 ,  2G059AA05 ,  2G059BB04 ,  2G059BB12 ,  2G059CC16 ,  2G059DD12 ,  2G059DD13 ,  2G059EE02 ,  2G059EE05 ,  2G059GG01 ,  2G059GG04 ,  2G059GG10 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ19 ,  2G059JJ20 ,  2G059KK01 ,  2G059MM01 ,  2G059MM09 ,  2G059MM10 ,  2G059MM11 ,  2G059PP04
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (3) Cited by examiner (6)
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