X線CT装置

Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：外川英明
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999026893
Publication number (International publication number)：2000225114
Application date： Feb. 04, 1999
Publication date： Aug. 15, 2000
Summary：

【要約】【課題】本発明の目的は、マルチスライスCTでヘリカルスキャンを行う際に生じ得る画質低下を、操作者が意識せずとも抑制し得るX線CT装置を提供することにある。【解決手段】本発明は、四角錐形にX線を被検体Pに向けて放射するX線発生手段9と、前記被検体Pを透過したX線を検出して投影データを得る複数の検出素子が2次元的に配列されている検出手段10と、前記X線発生手段9が前記被検体Pの周囲をスキャンするにあたり、被検体Pをその体軸方向への移動なしでスキャンを行う通常スキャン、または体軸方向への移動を伴ってスキャンを行うヘリカルスキャンのいずれかを行い得るスキャン制御手段3と、このスキャン制御手段3におけるスキャン態様のいずれかを選択するスキャン選択手段2と、所望とするスライス数を任意に設定し得るスライス数設定手段2と、前記スキャン選択手段2にてヘリカルスキャンが選択された際に前記スライス数設定手段2にて設定し得る最大スライス数に所定の制限を与えるスライス数制限手段3aとを具備する。

Claim (excerpt)：

四角錐形にX線を被検体に向けて放射するX線発生手段と、前記被検体を透過したX線を検出して投影データを得る複数の検出素子が2次元的に配列されている検出手段と、前記X線発生手段が前記被検体の周囲をスキャンするにあたり、被検体をその体軸方向への移動なしでスキャンを行う通常スキャン、または体軸方向への移動を伴ってスキャンを行うヘリカルスキャンのいずれかを行い得るスキャン制御手段と、このスキャン制御手段におけるスキャン態様のいずれかを選択するスキャン選択手段と、所望とするスライス数を任意に設定し得るスライス数設定手段と、前記スキャン選択手段にてヘリカルスキャンが選択された際に前記スライス数設定手段にて設定し得る最大スライス数に所定の制限を与えるスライス数制限手段とを具備することを特徴とするX線CT装置。

IPC (3)：

A61B 6/03 321 , A61B 6/03 323 , A61B 6/03 331

FI (3)：

A61B 6/03 321 Q , A61B 6/03 323 A , A61B 6/03 331

F-Term (19)：

4C093AA22 , 4C093BA03 , 4C093BA04 , 4C093BA05 , 4C093BA08 , 4C093BA10 , 4C093BA12 , 4C093BA13 , 4C093CA01 , 4C093CA13 , 4C093CA34 , 4C093EA14 , 4C093EB17 , 4C093ED07 , 4C093EE01 , 4C093FA13 , 4C093FA43 , 4C093FD07 , 4C093FE14

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (9)

特開平4-343836
特許第2774790号
X線CTスキャナ
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平8-231095 Applicant：株式会社東芝

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