異物検査装置

Inventor： , , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：永井冬紀
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000382344
Publication number (International publication number)：2002181736
Application date： Dec. 15, 2000
Publication date： Jun. 26, 2002
Summary：

【要約】【課題】装置のコスト低減が図れるとともに、容易に調整作業を行うことができる異物検査装置の提供。【解決手段】同一の操作パネル9上に、各検査レベルにおける異物判定基準である感度や面積が設定できるスイッチ91a,91b,92a,92bと、検査結果を定量的に表示するレベルゲージ表示領域94とを設けた。そのため、レベル表示94a,94bを確認しながら感度や面積の設定を行うことができ、調整作業がやりやすくなる。また、調整状況はレベル表示94a,94bにより定量的に表示されるので、調整状況の把握がしやすい。

Claim (excerpt)：

検査対象物を撮像装置により撮像して得られた画像データを複数のアルゴリズムで画像処理し、画像処理データに基づいて検査対象物に混入している異物を検出する異物検査装置において、異物検出判定基準に基づいて前記画像処理データを分析して判定する判定手段と、前記異物検出判定基準を設定する設定手段と、前記設定手段により設定された異物検出判定基準に基づく前記判定手段の判定結果を表示する表示手段とを備えたことを特徴とする異物検査装置。

F-Term (14)：

2G001AA01 , 2G001BA11 , 2G001CA01 , 2G001DA08 , 2G001GA01 , 2G001HA01 , 2G001HA13 , 2G001JA09 , 2G001JA13 , 2G001JA20 , 2G001KA03 , 2G001LA01 , 2G001PA06 , 2G001PA11

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

不良品検出処理方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平5-182227 Applicant：ライオンエンジニアリング株式会社
タイヤ検査方法及びその装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平8-092750 Applicant：横浜ゴム株式会社
不良物検出装置及びそれを用いた分離装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平10-273509 Applicant：株式会社クボタ

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