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J-GLOBAL ID:200903004169606189

トンネル磁気抵抗効果素子を備えた薄膜磁気ヘッド

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 山本 恵一
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2003022003
Publication number (International publication number):2004234755
Application date: Jan. 30, 2003
Publication date: Aug. 19, 2004
Summary:
【課題】TMR素子の静電破壊を防止できかつカットオフ周波数を高めることができる薄膜磁気ヘッドを提供する。【解決手段】TMR素子と、このTMR素子に並列接続された抵抗体とを備えた薄膜磁気ヘッドであって、TMR素子素子の抵抗値RTMRがRTMR≧240Ωであり、TMR素子の抵抗値と断面積との積RAがRA≧3Ω・μm2であり、抵抗体の抵抗値RPARAがRPARA≦480Ωである。【選択図】 図1
Claim (excerpt):
トンネル磁気抵抗効果素子と、該トンネル磁気抵抗効果素子に並列接続された抵抗体とを備えた薄膜磁気ヘッドであって、前記トンネル磁気抵抗効果素子の抵抗値RTMRがRTMR≧240Ωであり、該トンネル磁気抵抗効果素子の抵抗値と断面積との積RAがRA≧3Ω・μm2であり、前記抵抗体の抵抗値RPARAがRPARA≦480Ωであることを特徴とするトンネル磁気抵抗効果素子を備えた薄膜磁気ヘッド。
IPC (1):
G11B5/39
FI (1):
G11B5/39
F-Term (3):
5D034BA02 ,  5D034BB01 ,  5D034CA07
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (3)

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