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J-GLOBAL ID：200903005206856030

走査ビーム測定評価装置及び画像形成装置

Inventor：
鎌田 照己

About 鎌田 照己


Applicant, Patent owner：
株式会社リコー

About 株式会社リコー


Agent (1)： 柏木 慎史 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001082485
Publication number (International publication number)：2002286417
Application date： Mar. 22, 2001
Publication date： Oct. 03, 2002
Summary：
【要約】【課題】 走査光学装置について高精度に主走査方向の全走査系位置を計測する。【解決手段】 走査光学ユニット50から出力される走査ビームの走査開始の基準位置を検出する。評価対象画素に走査ビーム評価用のパターン発生区間信号を発生する。ポリゴンミラー14に光を照射するLD12をパターン発生区間信号基づき制御する。走査ビームの光量分布を検出部20で受光して検出する。検出部20は主走査方向に移動する。そして、検出部25で検出部20の位置検出を行う。検出部20をビーム主走査方向に移動しながら走査ビームを検出し、検出部20の位置を走査ビーム評価用パターンと同期して記憶して、走査ビーム位置と検出部20の位置とによって走査ビームの位置を測定評価する。
Claim (excerpt)：
静電潜像の露光走査を行う走査光学装置から出力される走査ビームの走査開始の基準位置を検出する基準位置検出手段と、評価対象画素に走査ビーム評価用パターンを発生する評価パターン発生手段と、前記走査光学装置のポリゴンミラーに光を照射する発光素子を前記パターンに基づき制御する発光素子制御手段と、前記走査ビームの光量分布を受光素子で受光して検出する光検出手段と、前記受光素子を主走査方向に移動する移動手段と、前記受光素子の位置検出を行う位置検出手段と、前記移動手段で前記受光素子をビーム主走査方向に移動しながら前記光検出手段で前記走査ビームを検出し、前記位置検出手段で検出される前記受光素子の位置を前記走査ビーム評価用パターンと同期して記憶して、前記光検出手段で検出した走査ビーム位置と位置検出手段で検出した前記受光素子位置とによって前記走査ビームの位置を測定評価する測定評価手段と、を備えている走査ビーム測定評価装置。
IPC (4)：
G01B 11/00 ,  B41J 2/44 ,  G01M 11/00 ,  H04N 1/113
FI (4)：
G01B 11/00 H ,  G01M 11/00 T ,  B41J 3/00 D ,  H04N 1/04 104 A
F-Term (40)：
2C362AA48 ,  2C362BA89 ,  2C362BB29 ,  2C362BB30 ,  2C362BB31 ,  2C362BB46 ,  2C362CB73 ,  2F065AA07 ,  2F065AA19 ,  2F065CC25 ,  2F065DD00 ,  2F065DD06 ,  2F065FF01 ,  2F065FF67 ,  2F065GG06 ,  2F065HH04 ,  2F065HH13 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL10 ,  2F065LL15 ,  2F065LL30 ,  2F065LL62 ,  2F065MM16 ,  2F065SS13 ,  2F065UU05 ,  2F065UU06 ,  2G086EE03 ,  2G086GG03 ,  5C072AA03 ,  5C072BA04 ,  5C072CA06 ,  5C072HA02 ,  5C072HA13 ,  5C072HB08 ,  5C072HB11 ,  5C072HB13 ,  5C072UA11 ,  5C072XA01 ,  5C072XA05
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (3)

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