Pat
J-GLOBAL ID:200903006677647772
化学的気相成長法
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
中村 純之助 (外1名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1996200357
Publication number (International publication number):1998045490
Application date: Jul. 30, 1996
Publication date: Feb. 17, 1998
Summary:
【要約】【課題】CVD法の利点である低真空度成長・低温成長と高度被覆性を満足すると同時に、結晶性や電気特性においてPVD膜に劣らないヘテロエピタキシャル膜を形成することが可能な新規なCVD法を提供する。【解決手段】CVDの成長期間を少なくとも2つに分割し、原料蒸気の輸送量を抑制して極めて緩やかに成長を行う「緩成長期間」と、これに引続き、原料蒸気の輸送量を抑制せず高速で成長を行う「急成長期間」とに分けて薄膜形成するように構成した化学的気相成長法。
Claim (excerpt):
一つまたは複数の化学的原料蒸気を、反応器に輸送し、反応器内に設置した単結晶基板の近傍で化学反応させ、該単結晶基板に基板とは異種の単結晶膜をヘテロエピタキシャル成長させる化学的気相成長法において、該単結晶膜をヘテロエピタキシャル成長させる成長期間を、該原料蒸気の輸送量を抑制して極めて緩やかに成長を行う緩成長期間と、これに引続き、該原料蒸気の輸送量を抑制せず高速で成長を行う急成長期間とに、少なくとも2分割したことを特徴とする化学的気相成長法。
IPC (5):
C30B 25/02
, C30B 35/00
, H01L 21/205
, H01L 21/31
, H01L 21/316
FI (5):
C30B 25/02 Z
, C30B 35/00
, H01L 21/205
, H01L 21/31 B
, H01L 21/316 X
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (10)
-
特開昭62-213251
-
特開平4-108697
-
特開昭64-024319
-
半導体装置のアルミニウム配線の形成方法及び装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平5-068261
Applicant:川崎製鉄株式会社
-
特開平1-152734
-
半導体装置の製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平7-050104
Applicant:株式会社東芝
-
半導体の製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平7-118277
Applicant:富士通株式会社
-
特開平2-141497
-
特開昭62-285415
-
特開平2-232926
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Cited by examiner (9)
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特開昭62-213251
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特開平4-108697
-
特開昭64-024319
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半導体装置のアルミニウム配線の形成方法及び装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平5-068261
Applicant:川崎製鉄株式会社
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特開平1-152734
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半導体装置の製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平7-050104
Applicant:株式会社東芝
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半導体の製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平7-118277
Applicant:富士通株式会社
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特開平2-141497
-
特開昭62-285415
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