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J-GLOBAL ID：200903009071265857

ガラス板の欠陥識別検査方法および装置

Inventor： 岡村 真一
Applicant, Patent owner： セントラル硝子株式会社
Agent (1)： 西 義之
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998143923
Publication number (International publication number)：1999337504
Application date： May. 26, 1998
Publication date： Dec. 10, 1999
Summary：

【要約】【課題】ガラス板中の各種内部欠陥の内、異物欠陥の検出を目的とし、特に強化ガラスの自爆の原因となる硫化ニッケル等の異物を検出する。【解決手段】搬送移動するガラス板に、その下方に設けた光源より光を照射し、ガラス板の上方に設けたラインカメラにてガラス板の搬送方向と直交する方向を走査撮像し、得られた明部と暗部の濃淡信号によりガラス板の欠陥を検出する方法において、ガラス板中の非遮光性欠陥を光らせて明部とし、ガラス板中の遮光性異物に遮断されて暗部となるように光を照射することにより遮光性異物欠陥を識別する。

Claim (excerpt)：

搬送移動するガラス板に、その下方に設けた光源より光を照射し、ガラス板の上方に設けたラインカメラにてガラス板の搬送方向と直交する方向を走査撮像し、得られた明部と暗部の濃淡信号によりガラス板の欠陥を検出する方法において、ガラス板中の非遮光性欠陥を光らせて明部とし、ガラス板中の遮光性異物に遮断されて暗部となるように光を照射することにより遮光性異物欠陥を識別することを特徴とするガラス板の欠陥識別検査方法。

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 透明板状体の欠点検査方法及び装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平7-014224   Applicant：旭硝子株式会社
• 光学部材検査装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平7-189844   Applicant：旭光学工業株式会社
• 欠陥検出装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平6-051503   Applicant：東芝エンジニアリング株式会社