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J-GLOBAL ID：200903009315209415
位置測定方法
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992207453
Publication number (International publication number)：1995151540
Application date： Jul. 10, 1992
Publication date： Jun. 16, 1995
Summary：
【要約】 (修正有)【目的】 気象条件の影響を受けない電磁波を「ふく射」させ、反射板で反射させた電磁波または新規に発射された電磁波を選び出し、直接に受信した電磁波と比較することで自己の位置を測定する。【構成】 定位置に発信装置2を設置し測定しようとする扇形方向に電磁波を発射させる。測定点1は「ふく射」された電磁波の中で直接電磁波を受ける一方、定位置に設置された反射板により反射された電磁波または発信装置2の電磁波を受けて新規に発射された電磁波を受信して双方の電磁波間の角度と遅延時間を測定した結果に、定位置に設置された発信装置2と反射板の間の距離を基本として三角法の計算により発信装置2と反射板に対する測定点1の位置を測定する。
Claim (excerpt)：
「ふく射波」の発射装置を定点とし一定間隔を離した位置に反射点である反射板をおき測定点において二点間の入射角度と、二方向の入力時間の誤差を遅延距離におきかえて該入射角度および定点と反射点の距離により測定点における位置を算出することを特徴とする位置測定方法。
IPC (2)：
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