誘電体の複素誘電率の測定方法及び測定装置

Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (2)：内藤照雄 , 宮越典明
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2004059742
Publication number (International publication number)：2005062152
Application date： Mar. 03, 2004
Publication date： Mar. 10, 2005
Summary：

【課題】誘電体の複素誘電率を高い精度で測定することができる誘電体の複素誘電率の測定方法を提供することである。【解決手段】誘電体および気体が封入された共振器4に、電磁波を入力し、電磁波の入力に応答して、共振器4から出力された電磁波の共振モードにおける共振周波数、挿入損失および電力半値幅をネットワークアナライザ16で測定し、測定された共振周波数、挿入損失および電力半値幅から誘電体の複素誘電率を算出する。【選択図】図2

Claim (excerpt)：

モード発生器内に誘電体を封入する封入工程と、前記モード発生器に電磁波を入力する入力工程と、前記モード発生器から出力される電磁波を測定する測定工程と、測定された前記電磁波を基に複素誘電率を算出する算出工程と、を備えたことを特徴とする誘電体の複素誘電率の測定方法。

IPC (2)：

G01N22/00 , G01R27/26

FI (4)：

G01N22/00 Y , G01N22/00 G , G01N22/00 J , G01R27/26 H

F-Term (13)：

2G028AA01 , 2G028BB05 , 2G028BC03 , 2G028BC04 , 2G028BC05 , 2G028BD03 , 2G028BF07 , 2G028CG09 , 2G028CG10 , 2G028CG13 , 2G028CG14 , 2G028DH15 , 2G028EJ01

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (8)

粉体の比誘電率の測定方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平4-289850 Applicant：株式会社村田製作所
電気特性測定方法および装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平9-282398 Applicant：ティーディーケイ株式会社
導波装置、電気特性測定装置及び電気特性測定方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平8-068106 Applicant：ティーディーケイ株式会社

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電気特性測定方法および装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平9-282398 Applicant：ティーディーケイ株式会社
導波装置、電気特性測定装置及び電気特性測定方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平8-068106 Applicant：ティーディーケイ株式会社
特開平3-013868

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Article cited by the Patent：

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