強度変調光を用いた空間情報の検出装置

Inventor： , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (2)：西川惠清 , 森厚夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2003051926
Publication number (International publication number)：2004032682
Application date： Feb. 27, 2003
Publication date： Jan. 29, 2004
Summary：

【課題】強度変調した光を用い発光側と受光側との位相差を求める際に受光側において高速に応答する素子を用いることなく空間に関する情報を検出する。【解決手段】発光源1は所定の発光周波数で強度変調された光を空間に放射する。イメージセンサ5は、前記空間からの光を受光し受光強度に対応する信号レベルの受光信号を出力する複数個の光電変換部3を備える。各光電変換部3から出力される受光信号は、周波数変換部6において発光周波数とは異なる周波数の局発信号と混合され、発光周波数よりも低周波であるビート信号を出力する。ビート信号は積分器7により積分され、積分器7から得られる積分値を用いて前記空間に関する情報が検出される。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

所定の発光周波数で強度変調された光が照射されている空間からの光を受光し受光強度に対応する電気出力を生成する光電変換部と、光電変換部で生成された電気出力に発光周波数とは異なる規定の局発周波数の局発信号を出力する局部発振回路と、前記電気出力に局発信号を混合することにより光電変換部から出力される電気出力を発光周波数よりも低周波数であるビート信号に周波数変換する感度制御部と、ビート信号を規定のタイミングで積分する積分器と、積分器の出力により前記空間に関する情報を評価する評価部とを備えることを特徴とする強度変調光を用いた空間情報の検出装置。

IPC (4)：

H04N5/30 , G01S17/36 , H01L27/146 , H04N5/335

FI (5)：

H04N5/30 , G01S17/36 , H04N5/335 F , H04N5/335 P , H01L27/14 A

F-Term (33)：

4M118AA10 , 4M118AB02 , 4M118AB03 , 4M118BA12 , 4M118BA13 , 4M118BA14 , 4M118CA02 , 4M118CA04 , 4M118CA07 , 4M118DB07 , 4M118DB08 , 4M118DB09 , 4M118DB16 , 4M118FA06 , 4M118FA13 , 4M118FA19 , 4M118FA34 , 4M118FA35 , 4M118GB08 , 5C024AX00 , 5C024EX12 , 5C024GY01 , 5C024GZ02 , 5C024HX00 , 5C024HX31 , 5J084AA05 , 5J084AD02 , 5J084BA40 , 5J084CA07 , 5J084CA24 , 5J084CA42 , 5J084CA44 , 5J084EA01

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (6)

電磁波の位相情報および/または振幅情報を調べるための方法と装置
Gazette classification：公表公報 Application number：特願平10-512124 Applicant：シュヴァルトルドルフ
特許第3758618号
光センサおよび三次元形状計測装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2000-071617 Applicant：富士ゼロックス株式会社

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Cited by examiner (1)

電磁波の位相情報および/または振幅情報を調べるための方法と装置
Gazette classification：公表公報 Application number：特願平10-512124 Applicant：シュヴァルトルドルフ

Article cited by the Patent：

Cited by applicant (3)

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