光センサおよび三次元形状計測装置

Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：平田忠雄
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000071617
Publication number (International publication number)：2001268445
Application date： Mar. 15, 2000
Publication date： Sep. 28, 2001
Summary：

【要約】【課題】小型かつ安価で、対象物体までの距離を短時間かつ高精度に計測することが可能な光センサおよび三次元形状計測装置を提供すること。【解決手段】入射光を信号電流に変換する光電変換部90と、信号電流を所定の周期でサンプリングするサンプリング部91と、サンプリングされた信号電流に対応する信号電荷を蓄積する蓄積部92と、サンプリング部がサンプリングしていない期間に光電変換部とその周辺に形成された寄生容量に蓄積された不要電荷を排出する排出部93とを有して2次元状に配列された複数の信号発生手段96と、複数の信号発生手段の蓄積部に蓄積された信号電荷を読み出す読み出し手段97とを備える。

Claim (excerpt)：

入射光を信号電流に光電変換する光電変換部と、前記信号電流を所定の周期でサンプリングするサンプリング部と、前記サンプリング部によってサンプリングされた前記信号電流に対応する信号電荷を蓄積する蓄積部と、前記サンプリング部がサンプリングしていない期間に前記光電変換部および前記光電変換部の周辺に形成された寄生容量に蓄積された不要電荷を排出する排出部とを有して2次元状に配列された複数の信号発生手段と、前記複数の信号発生手段の前記蓄積部に蓄積された前記信号電荷を読み出す読み出し手段とを備え、前記サンプリング部および前記排出部は、フォトゲートを用いて構成されたことを特徴とする光センサ。

IPC (6)：

H04N 5/335 , G01B 11/00 , G01B 11/24 , G01S 17/36 , H01L 27/148 , H04N 13/02

FI (7)：

H04N 5/335 P , G01B 11/00 H , G01B 11/00 B , G01S 17/36 , H04N 13/02 , G01B 11/24 K , H01L 27/14 B

F-Term (75)：

2F065AA06 , 2F065AA53 , 2F065DD00 , 2F065DD02 , 2F065DD04 , 2F065DD06 , 2F065FF13 , 2F065FF42 , 2F065GG06 , 2F065JJ03 , 2F065JJ18 , 2F065JJ26 , 2F065LL00 , 2F065LL04 , 2F065LL21 , 2F065LL30 , 2F065NN02 , 2F065NN08 , 2F065NN11 , 2F065QQ00 , 2F065QQ01 , 2F065QQ02 , 2F065QQ14 , 2F065QQ23 , 2F065QQ24 , 2F065QQ25 , 2F065QQ28 , 2F065QQ47 , 4M118AA10 , 4M118AB02 , 4M118AB03 , 4M118BA08 , 4M118BA13 , 4M118CA03 , 4M118FA06 , 4M118FA12 , 4M118FA15 , 4M118FA19 , 4M118FA33 , 4M118FA34 , 4M118FA44 , 4M118GD03 , 4M118GD14 , 5C024AX01 , 5C024BX00 , 5C024CX12 , 5C024CY17 , 5C024EX12 , 5C024GX03 , 5C024GY04 , 5C024GZ02 , 5C024GZ03 , 5C024GZ04 , 5C024GZ07 , 5C024GZ08 , 5C024GZ13 , 5C061AA29 , 5C061AB02 , 5C061AB03 , 5C061AB06 , 5C061AB08 , 5J084AA05 , 5J084AD01 , 5J084AD05 , 5J084BA04 , 5J084BA36 , 5J084BB02 , 5J084BB20 , 5J084BB24 , 5J084BB35 , 5J084CA03 , 5J084CA22 , 5J084CA31 , 5J084CA67 , 5J084EA31

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (16)

電磁放射検出器、該検出器を用いた高感度ピクセル構造、及び該検出器の製造方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平10-067575 Applicant：アンテルユニヴェルシテール・ミクロ-エレクトロニカ・サントリュム・ヴェー・ゼッド・ドゥブルヴェ
特開平3-050972
特開昭64-051775

特開平1-189158

特開平2-056182

特開平4-268764

固体撮像装置及びこれを搭載したビデオカメラ
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平7-098362 Applicant：ソニー株式会社

固体撮像装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平5-003710 Applicant：日本電気株式会社

強度変調された照射野の検出及び復調のための装置及び方法
Gazette classification：公表公報 Application number：特願平8-515673 Applicant：ライカアーゲー

光波測距儀
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2000-026920 Applicant：旭精密株式会社

3次元電子カメラ
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平11-140214 Applicant：オリンパス光学工業株式会社

光センサおよび三次元形状計測装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平11-196016 Applicant：富士ゼロックス株式会社

光検出センサおよび三次元形状計測装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平11-316324 Applicant：富士ゼロックス株式会社

形状計測装置および形状計測方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平10-363199 Applicant：富士ゼロックス株式会社

形状計測装置および形状計測方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平11-043410 Applicant：富士ゼロックス株式会社

形状計測装置および形状計測方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平11-286679 Applicant：富士ゼロックス株式会社

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Cited by examiner (16)

電磁放射検出器、該検出器を用いた高感度ピクセル構造、及び該検出器の製造方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平10-067575 Applicant：アンテルユニヴェルシテール・ミクロ-エレクトロニカ・サントリュム・ヴェー・ゼッド・ドゥブルヴェ
特開平3-050972
特開昭64-051775