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J-GLOBAL ID：200903010545017246

表面増強振動分光分析用治具並びにその製造方法及び表面増強ラマン散乱分光分析用治具並びにその製造方法

Inventor：
小中原 馨

About 小中原 馨


Applicant, Patent owner：
キヤノン株式会社

About キヤノン株式会社


Agent (2)： 山下 穣平 ,  永井 道雄
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2006313175
Publication number (International publication number)：2008128787
Application date： Nov. 20, 2006
Publication date： Jun. 05, 2008
Summary：
【課題】試料に損傷を与えない程度の強さのレーザ光を照射しても、強度が微弱なラマン散乱光をさらに感度よく測定できるようにすることを目的とする。【解決手段】振動分光分析を行うための表面増強振動分光分析用治具において、突起11又は柱状構造体16が形成された下地膜12付きの第1の基体と、第2の基体とを備え、第1の基体の突起11又は柱状構造体16が形成される側と、第2の基体とが対向して配置されることを特徴とする。【選択図】図1
Claim (excerpt)：
振動分光分析を行うための表面増強振動分光分析用治具において、 突起又は柱状構造体が形成された下地膜付きの第1の基体と、 第2の基体とを備え、 前記第1の基体の突起又は柱状構造体が形成される側と、前記第2の基体とが対向して配置されることを特徴とする表面増強振動分光分析用治具。
IPC (2)：
G01N 21/65 ,  B82B 3/00
FI (2)：
G01N21/65 ,  B82B3/00
F-Term (17)：
2G043DA06 ,  2G043EA03 ,  2G043EA14 ,  2G043GA07 ,  2G043GB01 ,  2G043GB02 ,  2G043GB05 ,  2G043GB16 ,  2G043KA01 ,  2G043KA02 ,  2G043KA09 ,  2G059DD13 ,  2G059EE02 ,  2G059EE03 ,  2G059EE12 ,  2G059FF03 ,  2G059HH01
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (9)
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Cited by examiner (4)
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