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J-GLOBAL ID:200903010886174200

低オフアクシスSiCウエハ上のSiCのホモエピタキシャル成長

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 藤田 アキラ
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2005208524
Publication number (International publication number):2006028016
Application date: Jul. 19, 2005
Publication date: Feb. 02, 2006
Summary:
【課題】 1度未満のオフアクシス角を有するSiC基板上でエピタキシャル層成長によるウエハおよびデバイスを完成させる。【解決手段】 SiC基板上に当該基板と同じポリタイプのSiCホモエピタキシャル層を作製する方法であって、前記層を前記SiC基板の表面上に成長させるステップと、1μmまでの厚さを有する境界層を形成することによりホモエピタキシャル成長を開始するステップとを有し、上記成長ステップでは前記表面が(0001)基底面に対して0.1度より大きいが1度未満の角度で傾斜している方法。【選択図】図3
Claim (excerpt):
SiC基板上に当該基板と同じポリタイプのSiCホモエピタキシャル層を作製する方法であって、 -前記層を前記SiC基板の表面上に成長させるステップと、 -1μmまでの厚さを有する境界層を形成することによりホモエピタキシャル成長を開始するステップとを有し、 上記成長ステップでは前記表面が(0001)基底面に対して0.1度より大きいが1度未満の角度で傾斜している方法。
IPC (3):
C30B 29/36 ,  C30B 25/02 ,  H01L 21/205
FI (3):
C30B29/36 A ,  C30B25/02 Z ,  H01L21/205
F-Term (31):
4G077AA03 ,  4G077BE08 ,  4G077DB04 ,  4G077DB07 ,  4G077ED05 ,  4G077ED06 ,  4G077EE02 ,  4G077EE06 ,  4G077EF01 ,  4G077EF02 ,  4G077FC04 ,  4G077FD02 ,  4G077FJ06 ,  4G077HA05 ,  4G077TA04 ,  4G077TB02 ,  4G077TC13 ,  4G077TC14 ,  4G077TK01 ,  4G077TK06 ,  4G077TK08 ,  4G077TK10 ,  5F045AA03 ,  5F045AB06 ,  5F045AC01 ,  5F045AC09 ,  5F045AD18 ,  5F045AF02 ,  5F045BB12 ,  5F045CA01 ,  5F045DA52
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (5)
  • 米国特許第4,912,064号明細書
  • 米国特許第5,011,549号明細書
  • 米国特許第6,329,088号明細書
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Cited by examiner (5)
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Article cited by the Patent:
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