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J-GLOBAL ID:200903011455566018

非破壊検査方法及び非破壊検査装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 小栗 昌平 (外4名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2001029603
Publication number (International publication number):2002228641
Application date: Feb. 06, 2001
Publication date: Aug. 14, 2002
Summary:
【要約】【課題】 構造が簡単で精度の良い測定ができる非破壊検査装置を得る。【解決手段】 周波数が所定の周波数範囲で連続的に変化する正弦波信号を発生させる正弦波発振器1を設け、この正弦波発振器1からの正弦波信号を機械的振動に変換して被検査タイル11に印加する一方で、その印加点から離間した点で被検査タイル11で発生する機械的振動を検出して、検出した機械的振動を電気信号に変換し、更に変換した電気信号と正弦波発振器1からの正弦波信号とを乗算し、これにより得られる電気信号のレベルを所定の閾値と比較して前記被検査タイル11の剥離の有無を判定する。
Claim (excerpt):
所定の範囲で周波数が経時的に変化する正弦波信号を発生させて、この正弦波信号を機械的振動に変換して被検査対象物に与える一方、前記機械的振動の印加点から離間した点で前記被検査対象物で発生する機械的振動を検出し、検出した機械的振動を電気信号に変換して前記正弦波信号と乗算し、これにより得られる電気信号のレベルを所定の閾値と比較して前記被検査対象物の剥離の有無を判定することを特徴とする非破壊検査方法。
IPC (2):
G01N 29/10 506 ,  G01N 29/12
FI (2):
G01N 29/10 506 ,  G01N 29/12
F-Term (11):
2G047AA09 ,  2G047AA10 ,  2G047AB07 ,  2G047BC07 ,  2G047CA01 ,  2G047GF05 ,  2G047GF11 ,  2G047GG15 ,  2G047GG17 ,  2G047GG33 ,  2G047GH01
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (19)
  • 特開昭59-094062
  • 特公平2-053747
  • 特許第2618696号
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Article cited by the Patent:
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